Роль фрагментации кластеров в масс-спектрометрии многозарядных ионов
В. В. Шатов
Санкт-Петербург
2008
Аннотация
Данное исследование выполнено в рамках подготовки к масс-спектрометрической проверке модели строения атома.
На основании анализа экспериментального материала показано присутствие кластеров в источниках ионов, использующих для ионизации вещества энергию электронного удара, лазера, искры, дуги, индуктивно связанной плазмы, тлеющего разряда.
Рассмотрены процессы кластерообразования в источниках многократно заряженных ионов: на электронном циклотронном резонансе, в источнике с электронным пучком, в ловушке с электронным пучком, в сторожевом кольце тяжелых ионов. Представлены доказательства изменения состава пучков ионов при их формировании, транспортировке, перезарядке и обдирке на мишенях.
Фрагментация кластеров в ионных источниках или за их пределами дает вклад в сигналы ионов, что серьезно осложняет постановку экспериментов с многократно заряженными ионами и интерпретацию результатов. Рассмотренные в работе способы различения многозарядных и фрагментарных ионов позволяют судить о сложности данной процедуры.
В статье обсуждается ряд экспериментальных трудностей, учет которых необходим в технике масс-спектрометрии многократно заряженных ионов.
Работа представляет интерес для масс-спектроскопистов, специалистов, связанных с диагностикой плазмы, а также исследователей, сталкивающихся в своей деятельности с пучками ионов, кластеров и фуллеренов.
Содержание
1. Введение
2. Способы производства многократно заряженных ионов
2.1. Ионные источники на электронном циклотронном резонансе
2.1.1. Получение ионов металлов в источниках ECR
2.1.2. Получение металлических ионов из летучих соединений
2.2 Ионный источник с электронным пучком
2.3. Ионная ловушка с электронным пучком EBIT
2.4. Ионный PIG-источник
2.5. Лазерный источник ионов
2.6 Ионные источники с вакуумной дугой или искрой
2.7 Ионный источник с тлеющим разрядом
2.8 Ионизация ионами
2.9 Ионизация ионов электронами
2.10 Ионизация методом обдирки на мишенях
3. Способы получения кластеров
3.1 Плазменные способы получения кластеров.
3.1.1 Распыление жидкостей до мелких капель или аэрозолей в плазму.
3.1.2 Дуговой разряд.
3.1.3 Искра
3.1.4 Магнетронный и тлеющий разряды
3.2 Лазерная генерация кластеров
3.3 Ионное распыление твердых тел
3.4 Криогенная плазма – источник кластерных ионов
3.5 Метод генерации кластерных пучков из газа или пара
3.6. Агрегатный генератор кластеров
4. Превращения кластеров
4.1 Энергия связи в кластерах
4.2. Фрагментация кластеров
4.2.1 Трансляционная энергия фрагментов
5. Анализ возможностей экспериментального учета вклада фрагментарных ионов в масс-спектры МЗИ
5.1. Метод определения заряда альфа-частиц
5.2. Изотопно-разрешаемая масс-спектрометрия
5.3. Кинетическая электронная эмиссия с чистой металлической поверхности
5.4. Распознавание фрагментарных ионов по ширине пика
5.5 Способ различения отрицательных многозарядных и фрагментарных ионов
5.6 Роль фрагментации кластеров в линейной времяпролетной масс-спектрометрии
5.7 Изучение фрагментации кластеров методом совпадений
5.8 Трудности масс-спектрометрического эксперимента
6. Анализ возможности образования кластеров при получении МЗИ
6.1. Ввод в плазму металлов
6.1.1. ECR-иcточник для производства МЗИ металлов.
6.1.2. Электрические разряды.
6.1.3. Ввод металлсодержащих молекул в плазму.
6.1.4. Ввод в плазму аэрозолей.
6.1.5. Лазерное испарение вещества.
6.2 Вторичная ионная эмиссия.
6.3 Использование криогенных температур при получении МЗИ.
6.4 Образование кластеров при ионизации газов
6.5 Кластеры в источниках EBIT
6.6 Ионизация ионов пересекающимся электронным пучком
7. Кластерообразование в ускорителях
7.1 Изменение состава пучка ионов при его формировании, транспортировке, перезарядке
7.2 Изменение состава пучка ионов при обдирке
7.3 Кластерообразование в сторожевом кольце тяжелых ионов
8. Заключение
8.1 Выводы
8.2 Благодарности
Введение
В атомной физике многократно заряженные ионы (МЗИ) являются как объектом, так и инструментом исследования. На первых этапах получения и изучения МЗИ главным практическим интересом была возможность контроля реакций термоядерного синтеза и деления, а также упрощение и удешевление оборудования для ускорения тяжелых ионов до высоких энергий. Бурное развитие нанотехнологий привело к использованию МЗИ в материаловедении [1].
Спектроскопия МЗИ – предмет интереса как чистой физики (при изучении структуры атома точное измерение уровней энергии МЗИ обеспечивает проверку теории строения атома), так и прикладной науки (диагностика плазмы и развитие рентгеновской спектроскопии). Атомные времена жизни МЗИ измеряют в ионных ловушках разных типов: электростатической (Киндона), магнитной (Пенинга), радиочастотной (Пауля), ионной ловушке с электронным пучком (EBIT) [2]. Для определения параметров излучения также применяют сторожевые кольца тяжелых ионов [2] и beam-foil-спектроскопию [2, 3].
Из фактов, показывающих, что спектральные линии МЗИ имеют значительную ширину [1], кластеры могут давать узкие полосы фотонной эмиссии [4], а спектры испускания молекул инертных газов иногда ошибочно приписывают атомам [5], следует важность знания состава излучающих систем: каким именно частицам принадлежат измеренные оптические характеристики и спектральные линии.
Надежность идентификации МЗИ осложнена процессами кластерообразования и фрагментации в источниках ионов (ИИ) или за их пределами, в ионных пучках. В статье рассмотрены способы различения фрагментарных и многозарядных ионов.
Присутствие кластерных ионов в пучках МЗИ приводит к тому, что пучок, вытянутый из ИИ, изначально состоит из набора частиц, и МЗИ вводятся в ускорители совместно с фрагментами кластеров, а многочисленные операции с пучками ионов (транспортировка, фокусировка, ускорение, банчировка, охлаждение, перезарядка, обдирка) приводят к дальнейшему усложнению пучков. Следовательно, от полноты учета состава ускоряемых частиц зависит цена научного исследования, а именно: корректность постановки эксперимента (при значительных материальных затратах на термоядерный синтез и эксплуатацию ускорительных комплексов) – с одной стороны, правильность интерпретации получаемых экспериментальных данных – с другой.
Задача работы: представить доказательства образования кластеров при производстве МЗИ и операциях с ними, рассмотреть роль фрагментации кластеров при работе с ионными пучками. Внимание при этом акцентируется на необходимости учета вклада от фрагментарных ионов в сигналы МЗИ в случаях, где это не всегда ожидается. Например: при ионизации газов не предполагается образование моноизотопных кластеров, могущих давать наложения на сигналы ионов с высокими кратностями заряда; также неожиданным может оказаться наличие таких наложений в линейной времяпролетной масс-спектрометрии.
Для сравнения условий генерации плазмы в ИИ с условиями образования и существования кластеров в статье кратко рассмотрены способы производства ионов и кластеров.
В работе обсуждаются трудности масс-спектрометрического эксперимента (помимо кластерообразования и фрагментации), обнаруженные при подготовке к масс-спектрометрической проверке модели строения атома.
Масс-спектрометрия успешно справилась с точным определением массы атома, и с ее помощью можно проверить модель его строения. В действующей модели атома постулируется равенство количества орбитальных электронов заряду атомного ядра. Подтверждением дискретности электронов в атоме является существование МЗИ в плазме. Идея проверки заключается в масс-спектрометрическом определении зарядов голых ядер (из соотношения массы иона к заряду) после полного удаления всех электронов, окружающих ядра, и в сравнении их с порядковыми номерами соответствующих элементов, благо есть устройства, позволяющие получать пучки голых ядер [1, 6, 7]. В случае соответствия зарядов ядер их порядковым номерам в периодической системе элементов, эксперимент внесет свой вклад в подтверждение состоятельности современной модели атома.
Способы производства многократно заряженных ионов
В данной статье к многозарядным ионам отнесены частицы (атомы, молекулы, кластеры, фуллерены) с кратностью заряда более единицы. МЗИ получают в специальных устройствах – источниках ионов, из которых ионы вытягиваются и формируются в виде пучков. После того как пучок сформирован в ИИ и выделен в определенном зарядовом состоянии отклоняющим магнитом (или другим образом), он подается в ускоритель, ионную ловушку, сторожевое кольцо или на мишень. Рассмотрение ИИ – источников плазмы – ограничено теми физическими принципами и явлениями, лежащими в основе их действия, которые одновременно с образованием МЗИ приводят к появлению кластеров. Состояние в физике и технологии основных источников ионов подробно изложено в коллективной монографии [6].
В масс-спектрометрии применяют ИИ, использующие воздействие на вещество энергии лазера, искры, дуги, индуктивно связанной плазмы, тлеющего разряда [6, 8 – 11]. Для получения пучков МЗИ в ускорителях и экспериментах по атомной физике широко применяются ИИ на электронном циклотронном резонансе, ECR (Electron Cyclotron Resonance) [12 – 18], ИИ PIG-типа (Penning Ionization Gauge) [19], ИИ с электронным пучком EBIS (Electron Beam Ion Source) [20], ионные ловушки с электронным пучком, EBIT (Electron Beam Ion Trap) [1, 2, 7, 21 – 23] и др.
2.1 Ионные источники на электронном циклотронном резонансе
Конструкции ECR источников хорошо известны, однако, далеко не изучены все физические явления, лежащие в основе действия этих ИИ [12]. МЗИ в источниках ECR появляются главным образом в результате ступенчатой ионизации, обусловленной ударами высокоэнергичных электронов. Для удержания плазмы используют специальную конфигурацию магнитного поля. Использование ECR-нагрева оставляет ионы холодными (порядка 1 эВ), селективно нагревая электроны вводимой в плазму электромагнитной волной с частотой равной циклотронной частоте электронов в магнитном поле. Ионизация в источнике ECR разделена на две ступени. Первая ступень – инжектор плазмы – это источник холодной плазмы, действующий при повышенном давлении. Поток плазмы, управляемый градиентом плотности, из первой части распространяется по линиям магнитного поля во вторую ступень. Из опыта известно, что градиент магнитного поля слабо влияет на поток холодной плазмы. Это объясняется огромным числом столкновений в плазме первой ступени.
Высокая температура электронов (1 – 10 кэВ) и относительно низкое давление нейтрального газа в плазме второй ступени источника (6,7 ∙ 10-5
– 6,7 ∙ 10-4
Па) дают высокие концентрации МЗИ. Потери МЗИ определяются в основном перезарядкой с нейтральными атомами в плазме и потерями при удержании. Условием работы ECR-источника с газами тяжелее кислорода является использование смеси газов. Использование буферного газа для кислорода увеличивает выход его ионов с высокой кратностью заряда [13]. ECR-источники применяются, в том числе, для ввода в ионные ловушки при изучении оптических параметров ионов [2].
2.1.1 Получение ионов металлов в источниках ECR
К ECR-источникам, позволяющим ионизировать не только газы, относится Minimafios [14]. В его работе можно выделить следующие стадии процесса образования МЗИ: испарение металла внутри источника ионов, осаждение испаренных атомов на стенках второй ступени ионизации, распыление пленки с поверхности (или повторное испарение термическим действием), ионизация испаренных атомов электронами плазмы. Для получения высокого вакуума в Minimafios есть криогенный насос.
Прямое введение металла изучали на источнике CAPRICE для широкого набора материалов: от алюминия до золота [12]. Испаряемый плазмой стержень размещался вблизи ECR-поверхности, а в качестве плазмообразующего газа подавался азот или кислород.
2.1.2
Получение металлических ионов из летучих соединений
Методом газоподобного производства металлических ионных пучков, MIVOC (Metal Ions from Volatile Compounds) получены пучки МЗИ различных элементов, например: Ti, Fe, Ni, W, Os, [15 – 18]. В состав, используемых в данном методе веществ, помимо металлических атомов, могут входить углерод, водород, кислород, галогены и др. Высокое давление паров летучих соединений, при сравнительно низкой температуре, позволяет обращаться с ними, как с газами.
2.2
Ионный источник с электронным пучком
Работа ИИ с электронным пучком, EBIS (Electron Beam Ion Source), впервые предложенного Е. Д. Донцом [20], включает следующие стадии: получение протяженного электронного пучка с заданной энергией и плотностью; создание электростатической ионной ловушки по всей длине пучка; ввод в ловушку и удержание в течение требуемого периода ионов рабочего вещества в низком зарядовом состоянии; извлечение МЗИ из ловушки по всей длине пучка и подготовка к следующему циклу. Первичные ионы в EBIS производятся либо из атомов рабочего вещества прямо в ловушке посредством электронного удара, либо импульсной инжекцией в электронный пучок источника EBIS пучка малозарядных ионов рабочего вещества [24]. Отличие между EBIS и другими источниками МЗИ в том, что в ходе процесса ионизации ионы с низкими зарядовыми состояниями полностью исчезают, преобразуясь в ионы с высокими зарядовыми состояниями. Удержание ионов ограничивается поперечной диффузией. Главный недостаток EBIS – это низкая интенсивность пучка МЗИ в импульсе, эквивалентная примерно1011
элементарным положительным зарядам для ионов малой и промежуточной масс, а для тяжелых ионов эта величина приблизительно на порядок меньше.
2.3 Ионная ловушка с электронным пучком
EBIT
В EBIT, используя принципы EBIS, получают ионы с высокими кратностями заряда и голые ядра. Также как и ИИ типа EBIS, ловушки EBIT подразделяются на "криогенные" [1, 7, 21, 22] и "теплые" [23]. Работу "криогенного" источника EBIT рассмотрим на примере получения водородоподобных и полностью ободранных ионов урана: U91+
и U92+
[7]. В источнике EBIT электронный пучок, сжатый магнитным полем 3 Т, распространяется вдоль оси ловушки. Аппаратура работает при температуре 4 К, дрейфовая трубка охлаждается через контакт со сверхпроводящим магнитом. Средняя плотность тока электронного пучка соответствует 5000 А/см2
при радиусе пучка 35 мкм. Положительные ионы удерживаются в электронном пучке его пространственным зарядом и подходящим распределением электрического поля вдоль ловушки. Для длительного удержания ионов урана используется техника испарительного ион-ионного охлаждения. При этом колимированный пучок атомов неона с контролируемой плотностью пересекает электронный пучок перпендикулярно к нему; часть атомов неона (~ 0,2%) захватывается после ионизации, нагревается, преимущественно столкновениями с ионами урана, и достигает высокого среднего зарядового состояния до аксиального выхода из ловушки, унося ~ 300 эВ на ион. Малозарядными ионами урана ловушка первоначально заполняется инжекцией из источника с вакуумной искрой [25].
В отличие от "крио" ИИ, в "теплых" источниках EBIT магнитное поле создается мощными постоянными магнитами [23], устройство откачивается турбомолекулярным насосом, рабочие газы подаются через два отдельных высокочувствительных клапана-натекателя.
Ловушки EBIT используются как для получения многозарядных ионов [1, 2, 7, 21 – 23] (схема NIST EBIT доступна на сайте [22]), так и для изучения спектров атомов (рентгеновских или оптических) [2, 26, 27]. МЗИ могут извлекаться из EBIT, анализироваться и/или доставляться к специальным устройствам.
2.4 Ионный
PIG-источник
ИИ PIG-типа широко используются в инжекторах для ускорителей частиц: циклотронах, синхротронах и линейных ускорителях [19]. Этот тип источников долгое время применялся для получения МЗИ газов, но теперь они все чаще используются для производства ионов металлов. Его рабочая камера находится в магнитном поле, которое служит также для разделения заряженных частиц. Характеристики плазмы определяются в основном давлением нейтрального рабочего газа. Давление в разряде Пеннинга высокого давления составляет более 0,1 Па. МЗИ в PIG-источниках образуются в результате ступенчатой ионизации электронами, а окончательное зарядовое состояние ионов зависит от времени их присутствия в области ионизации и характеристик электронного пучка. Напряжение, которое может превышать 700 В, прикладывается к дуге между анодом и катодом, ускоряя электроны. В результате бомбардировки высокоэнергичными ионами катоды расходуются. Ионные токи МЗИ (до миллиампер) могут быть вытянуты из плазмы, как в радиальном, так и в осевом направлении через небольшое центральное отверстие в одном из катодов. При обычном, радиальном, вытягивании ионов время их удержания ограничивается поперечной диффузией через осевое магнитное поле, которое происходит с аномально большой скоростью. Интересно, что пучок МЗИ получается лучше, когда один край щели вытягивающего электрода прикрывает часть вытягиваемого пучка.
2.5 Лазерный источник ионов
Лазерная плазма является импульсным эмиттером одно- и многократно ионизованных атомов, полиатомных и отрицательно заряженных ионов, нейтральных атомов с малой и большой энергией [9]. Ионные составы лазерной плазмы на поздних стадиях ее разлета и в момент ее образования значительно различаются. После окончания процесса рекомбинации в плазме регистрируется максимальное количество однозарядных ионов, а количество МЗИ монотонно снижается с ростом кратности заряда. С увеличением плотности потока лазерного излучения возрастает доля МЗИ и максимальная кратность заряда.
При воздействии мощного оптического излучения на кластеры имеется сходство с расширением в вакуум твердотельной плазмы, нагретой лазером. В работе [28] отмечается, что при взрыве кластеров, состоящих из сотен, тысяч атомов, после воздействия сверхсильного лазерного импульса образуются ионы с большими энергиями и зарядами. Напротив, при кулоновском взрыве малых молекул и малых кластеров в сильных лазерных полях возникают ионы с небольшими энергиями и зарядами. Взрыв кластеров усиливается после их облучения последовательно двумя лазерными импульсами высокой интенсивности. Атомарные МЗИ, образованные кулоновским взрывом, при дальнейшем взаимодействии с полем лазерного излучения теряют основные электроны и их заряд увеличивается. Это подобно получению МЗИ методом многофотонной ионизации [29]. Для любой частоты лазерного излучения (в диапазоне от ближнего инфракрасного до ближнего ультрафиолетового), при многофотонной ионизации атомов, имеющих несколько электронов во внешней оболочке, всегда помимо однозарядных ионов, образуются и МЗИ. Единственно, что необходимо – интенсивность излучения должна превышать пороговую для образования ионов с данной кратностью заряда. Из экспериментов также установлены две закономерности, типичные для процесса образования МЗИ [29]: 1 – при образовании ионов Аq
+
всегда при меньшей интенсивности излучения наблюдаются ионы А
(q
- 1)+
; 2 – ионы с зарядом Аq
+
образуются в таком интервале интенсивностей излучения, в котором полная вероятность (за импульс излучения) образования ионов с зарядом (q
– 1)+
велика и близка к насыщению.
2.7
Ионные источники с вакуумной дугой или искрой
Давление в вакуумной дуге около поверхности твердого тела очень высокое, и его градиент заставляет плазму, образованную в катодном пятне, распространяться от поверхности. Из плазменной струи через отверстие в аноде вытягивается ионный пучок, состоящий из вещества катода.
Вакуумная дуга в парах металла, MEVVA (Metal Vapor Vacuum Arc), возникает в ИИ дугового типа и является плазменным разрядом в вакууме между двумя металлическими электродами [30]. Физика механизма возникновения дуги не совсем понятна. Давление должно быть не выше 10-2
Па, а обычным является давление ~10-4
Па. На источнике MEVVA работали почти со всеми металлами [31]. Ионы, образующиеся с кратностью заряда до q
= + 5 и средним зарядовым состоянием от 2 до 3, могут быть инжектированы в другие ИИ для повышения их зарядности [26, 32]. Вакуумный разряд является эффективным источником МЗИ, однако в [33] отмечен неожиданный результат: генерирование чистых пучков однозарядных ионов из вакуумной дуги с сеточным управлением в импульсном дуговом источнике ионов, и отсутствие МЗИ на выходе вытягивающих систем.
Искровые ИИ также являются эффективными источниками МЗИ. Характерным для вакуумной искры является субмикросекундная длительность импульса и образование сильноионизированных частиц электродного материала [8, 25, 34]. Пучки ускоренных МЗИ материала катода генерируются плазменной струей вакуумного разряда [35].
3.4
Ионный источник с тлеющим разрядом
Тлеющий разряд – это вид плазмы, которая образуется в ячейке, заполненной газом (обычно аргоном) при низком (порядка 100 Па) давлении. Катод и анод вставлены в ячейку, или же они являются ее стенками. Между этими двумя электродами, прикладывается разность потенциалов 500 – 1500 В, в результате чего газ ионизируется. Положительные ионы ускоряются по направлению к катоду и выбивают из него электроны, которые, попадая в тлеющий разряд, увеличивают количество столкновений и тем самым дополнительно ионизируют газ. Ионы, ускоренные разностью потенциалов между электродами, распыляют катод. Частицы, выбитые из катода, попадают в плазму тлеющего разряда и ионизируются. Затем, как и в других ИИ, ионы вытягиваются и формируются в ионный пучок [36].
3.5
Ионизация ионами
Распыление ионами деталей ИИ (и пленок) вносит вклад в состав извлекаемых пучков. При вторичной ионной эмиссии могут быть выбиты как отрицательные, так и положительные ионы. В пучках вторичных ионов могут присутствовать МЗИ, ионы соединений и кластерные ионы. Количество МЗИ растет с энергией бомбардирующих частиц [37].
Быстрые МЗИ являются чрезвычайно эффективными при удалении электронов из атомов или молекул [38]. Для инертных газов найдены довольно значительные сечения ионизации в данных процессах [39 – 42], а при столкновении ионов аргона Ar12+
(с энергией 1,05 MэВ/a.е.м.) с молекулами йода, наблюдались ионы йода с кратностью заряда до I17+
. Предполагается даже, что были получены МЗИ молекул йода: I2
33+
, I2
34+
, I2
35+
[43].
3.6
Ионизация
ионов электронами
Сечения ионизации часто определяют методом пересекающихся пучков [44]. Для прохождения процесса по схеме:
e
+ A
+
→ A
2+
+ 2e
необходимо, прежде всего, создать строго параллельный моноэнергетический пучок ионов A
+
, используемый в качестве мишени для электронного пучка. Для этого используется ИИ с электростатическими линзами и дефлектором, позволяющими сформировать и сфокусировать пучок, прежде чем он попадет в первое магнитное поле, которое осуществляет монокинетизацию пучка. Пара коллимирующих щелей формирует пучок ионов A
+
, который затем пересекается с электронным пучком, выходящим из электронной пушки. Только малая часть (порядка 10-8
) ионов A
+
ионизируется электронным ударом до зарядового состояния A
2+
.
Базы данных по экспериментальному определению сечений ионизации МЗИ электронным ударом представлены в работе [45].
3.7
Ионизация методом обдирки на мишенях
Для получения МЗИ в ускорителях широко используют обдирку на газовых мишенях или фольге [3, 46 – 50]. Отличие обдирки от ионизации электронным ударом заключается в том, что в первом случае используют быстрые ионы и холодные электроны мишени, а во втором, наоборот, – холодные ионы и быстрые электроны.
3. Способы получения кластеров
Кластер – это система связанных атомов или молекул, и как физический объект он занимает промежуточное положение между молекулами – с одной стороны, и конденсированными системами – с другой. В данной работе под кластерами понимают нейтральные или заряженные частицы, состоящие из двух и более атомов.
Кластеры металлов, углерода и других тугоплавких элементов отличаются сильной связью (1 – 10 эВ) от слабосвязанных (~ 0,05 – 0,9 эВ) ван-дер-ваальсовых кластеров и не разрушаются при сильном возбуждении, когда энергия, приходящаяся на один атом кластера, составляет ≥ 1 эВ [51]. В большинстве методов получения сильносвязанных кластеров (лазерный метод, метод распыления, импульсные разряды) формирующиеся кластеры, если они не охлаждены столкновениями с буферным газом, являются горячими. При дополнительном возбуждении кластеров интенсивным лазерным излучением, электронным ударом, энергичными ионами, столкновением с твердой мишенью, они переходят в высоковозбужденное состояние [52]. Фундаментальные и прикладные проблемы кластеров переплетаются друг с другом и подробно рассмотрены в [51 – 58].
3.1 Плазменные способы получения кластеров
Слабоионизированная плазма содержит кластерные ионы в заметных количествах [53]. Однако плазменный метод генерации больше подходит для кластеров с высокой энергией связи атомов, т.к. высокая температура плазмы и присутствие в ней энергичных атомных частиц ведет к разрушению непрочных образований.
3.1.1 Распыление жидкостей до мелких капель или аэрозолей в плазму
При получении кластеров методом распыления, капли, состоящие из металлсодержащих молекул, вводятся в плотный буферный газ и быстро нагреваются, что ведет к их превращению в пар, разложению молекул с образованием металлических атомов и объединению металлических атомов в кластеры [55]. Для разрушения введенных в плазму металлсодержащих молекул газу необходимо сообщить заметную удельную энергию, и этот процесс сопровождается охлаждением буферного газа.
3.1.2 Дуговой разряд
Положительный столб дугового разряда высокого давления удобно использовать в качестве плазменной среды для производства кластеров [56]. Металл может быть введен в дуговую плазму в виде металлосодержащих молекул, например, галогенидов жаропрочных металлов: TiF4
, TiCl4
, TiBr4
, ZrF4
, ZrCl4
, ZrBr4
, MoF6
, WCl6
, WBr6
, IrF6
, UF6
. Соединения металла и его пар разделяются по сечению разряда (в силу высоких градиентов температуры), а, благодаря высокой плотности буферного газа, процессы переноса оказываются слабыми, что предотвращает перемешивание разных компонент металла. Процесс регенерации идет в более холодной области, у стенок. Для существования металлических кластеров в газоразрядной плазме требуется плотный буферный газ, отводящий лишнее тепло и способствующий росту кластеров [57].
В случае получения кластеров непосредственно из жаропрочного металла можно применить другую схему [57]. В разрядной трубке в свободном пространстве за анодом, куда заряженные частицы не проникают, содержится нейтральный аргон при том же давлении и температуре, что и в остальной части трубки. В заанодной области металлический вольфрам нагревается до температуры 4500 К и создается поток испаренных атомов вольфрама, которые остывают при столкновениях с атомами аргона и объединяются в кластеры.
3.1.3 Искра
Было установлено [59], что в вакуумном искровом разряде помимо ионного потока часть металла уходит с катода в виде микрочастиц, и параметры капельной фракции сравнимы с таковыми для вакуумной дуги. Из искровой масс-спектрометрии известно об образовании в высокочастотной искре многочисленных молекулярных анионов [8]. Например, при использовании графитовых электродов обнаружены отрицательные кластеры углерода вплоть до С33
−
, также были обнаружены кластерные катионы углерода вплоть до С34
+
и кластерные ионы металлов: Be25
+
, Al9
+
, Fe6
+
и др. В работе [9] отмечается, что в искровом разряде наибольшей способностью к образованию полиатомных ионов обладают элементы IV группы периодической системы.
3.1.4
Магнетронный и тлеющий разряды
Магнетронный разряд, обладая высокой эффективностью распыления катода, является хорошим методом генерации атомов в буферном газе. Метод был использован для получения кластерных пучков Ag, Al, Co, Cu, Mg, Mo, Si, Ti, со средним числом атомов в кластере в интервале 500 – 10000 [55].
Разряд с полым катодом – тлеющий разряд – характеризуется еще более высокой эффективностью распыления катода под действием ионного тока и также подходит для образования атомного пара, преобразующегося далее в кластеры [55].
3.2 Лазерная генерация кластеров
Для испарения и образования свободных атомов жаропрочных материалов используется лазерный пучок [60]. Далее пар вместе с буферным газом расширяется в вакуум, проходит через сопло и дает кластеры. В работе [61] отмечается, что именно так, при лазерном испарении углерода в камере, заполненной инертным газом, впервые наблюдалось образование фуллеренов. Однако присутствие буферного газа не обязательно, конденсация идет и в вакуумных условиях. Охлаждение происходит за счет изоэнтропийного расширения облака испаренного вещества, также для конденсации в вакууме нужна достаточная эффективность межмолекулярных столкновений. Процессы, в результате которых в газовой фазе при лазерном распылении появляются большие кластеры и макромолекулы, до конца не понятны.
При воздействии гигантских импульсов лазерного излучения (порядка 1010
Вт/см2
) выход полиатомных ионов резко снижается с ростом числа атомов в образовании [9]. Для миллисекундных импульсов лазерного излучения отмечается различие в количестве молекул с четным и нечетным числом атомов. Количество многоатомных образований, испаряемых с поверхности облучаемого твердого тела, в этом случае коррелирует с энергией связи полиатомных молекул.
Лазерное распыление углерода, кремния, германия в атмосфере инертных газов (Ar, Kr, Xe) приводит к образованию смешанных кластеров [62]. Лазерным испарением получены (и идентифицированы методом времяпролетной масс-спектрометрии) метастабильные двухзарядные ионные комплексы металлов состава M2+
(L)N
, (где M: Mg, Co, Si, Ti; L: Ar, CO2
, H2
O) [63].
3.2
Ионное распыление твердых тел
Один из первых методов получения кластеров связан с бомбардировкой мишени ионами килоэлектронвольтных энергий (при этом получаются пучки небольших кластеров ограниченной интенсивности) [64]. В связи с тем, что эмиссия кластеров при взаимодействии высокоэнергетических частиц с твердым телом является одним из наименее понятных разделов физики, этому вопросу уделяется пристальное внимание [37, 65 – 68]. В работе [37] отмечается, что число атомов, связанных в заряженные кластеры, может составлять порядка 50% интенсивности эмиссии атомарных ионов, в то время как нейтральные частицы (а их подавляющее большинство в распыленном потоке) образуют незначительное число кластеров и, таким образом, определяют меньшую фракцию связанных атомов. Однако надежной информации об истинном распределении распыленных частиц по размерам нет ни для заряженных, ни для нейтральных кластеров. Возможно, это связано с приборными эффектами: сильной дискриминацией тяжелых частиц в масс-спектрометрах или вследствие распада менее стабильных кластеров при их прохождении через прибор (примерно за 10-4
с). Массовые распределения могут отражать распределения стабильности кластеров в большей степени, чем истинные составы распыленных частиц.
3.4 Криогенная плазма – источник кластерных ионов
Наряду с молекулярными ионами для криогенной плазмы характерно образование кластерных ионов. В работе [53] показано, что при комнатной температуре в азоте преобладающими положительными ионами являются N+
, N2
+
, N3
+
, N4
+
и N5
+
. При понижении температуры появляются кластерные ионы до N9
+
[69].
Значительная часть информации о свойствах криогенной плазмы получена из исследования послесвечения (распада) плазмы, созданной импульсным электрическим разрядом в газе, охлаждаемом до криогенных температур. Из масс-спектрометрических исследований криогенной гелиевой плазмы установлено [70], что уже при Т = 300 К и давлении 103
Па в ней присутствуют ионы Не2
+
. Понижение температуры приводит к увеличению содержания Не2
+
и к образованию Не3
+
и Не4
+
. Их присутствие в небольших количествах обнаруживается уже при комнатной температуре, а при температуре жидкого азота Не3
+
является основным ионом [71].
3.5 Метод генерации кластерных пучков из газа или пара
Проходя через сопло, газ или пар расширяется, в результате этого его температура и плотность после сопла сильно уменьшаются. Если давление газа превысит давление насыщенного пара при данной температуре, то избыток газа может перейти в кластеры. Хотя метод генерации кластеров, основанный на свободном расширении газа, является довольно-таки простым, он реализуется в определенной области давлений газа и параметров его расширения. Возможность образования кластеров из атомов определяется значением эмпирического безразмерного параметра Хагена [55].
3.6 Агрегатный генератор кластеров
Последовательность получения кластеров в данном устройстве можно представить как образование первичных кластеров буферного газа (например, аргона) в результате расширения через малое отверстие; затем первичные кластеры, проходя через камеру, где испаряется материал будущих (вторичных) кластеров, захватывают испаряющиеся атомы, молекулы и образуют сложные кластеры; далее – распад составного кластера [55].
4. Превращения кластеров
4.1 Энергия связи в кластерах
Прочность кластеров – атомных ван-дер-ваальсовых, молекулярных, металлических и валентных фуллеренов – различна. Например, энергия связи С58
+
– С2
в фуллерене равна 7,1 ± 0,4 эВ [72], тогда как оценка энергии связи для ван-дер-ваальсовых молекулярных кластеров азота (N2
)50
+
дает порядка 0,24 эВ [73]. Энергии связи D
0
(энергия диссоциации) малых кластерных ионов Ar, CO, и N2
, полученные методом KER (Kenetic Energy Release) при их диссоциативной ионизации [74], равны: D
0
(Ar2
+
) = 1,29 эВ; D
0
(ArN2
+
) = 1,19 эВ; D
0
(ArCO+
) = 1,00 эВ; D
0
((N2
)2
+
) = 1,06 эВ. Энергия связи кластера С2
О2
+
является близкой к энергии молекулярных ионов: D
0
(C2
O2
+
) = 1,80 эВ. У металлических кластеров энергии диссоциации составляют: D
0
(90
Zr2
+
) = 4,18 ± 0,01; D
0
(Nb2
+
) = 5,94 ± 0,01, и D
0
(Nb+
3
–Nb) = 5,994 ± 0,004 эВ [75].
Энергия связи молекул кислорода в кластерных ионах, измеренная методом масс-спектроскопии высокого давления [76], для димера кислорода (О2
)2
оказалась равной 0,39 эВ. Она значительно уменьшается для больших кластеров и достигает почти постоянной величины 0,08 эВ для частиц, содержащих более пяти молекул кислорода. В работе [77] для нечетных кластерных катионов кислорода (до О5
+
) энергия связи, определенная фотоионизацией молекул пучка, оказалась порядка 0,04 эВ, что меньше, чем у стехиометрических кластеров. В исследованиях одномолекулярной диссоциации нестехиометрических кластеров кислородных ионов ОN
+
(N
= 5, 7, 9, 11) указывается на большую прочность ионных кластеров, чем нейтральных [78]. Это увеличение энергии связи повышает температуру кластерных ионов после ионизации и часто приводит к испарению сразу нескольких мономеров. Молекулярные мономеры могут подвергаться фрагментации, если получат достаточно энергии в процессе ионизации. Отмечается [79], что при энергии электронов 100 эВ также наблюдались пики с нечетным количеством атомов кислорода (их интенсивность значительно ниже, чем четных кластеров), тогда как при 17 эВ существовали только пики с четным количеством атомов кислорода. Интересно, что ионы О5
+
распадаются исключительно на О2
+
и О3
, в то время как все большие нечетные кластеры теряют молекулу кислорода.
О прочности кластеров инертных газов (Ar, Kr, Xe) говорит энергия электронов (≤ 1,5 кэВ), используемая при изучении их фрагментации [100]. Для электронов с энергией много больше границы (70 эВ) малая часть избыточной энергии распределяется в кластерах, что приводит к испарению в основном мономеров. Но даже близко к границе существует значительная фрагментация, т.к. ионы, образуемые локализацией заряда, имеют большую энергию связи (~ 1 эВ). Похожие результаты были получены в работе [80] при электронной бомбардировке кластеров воды, (H2
O)N
, и аммиака, (NH3
)N
.
4.2. Фрагментация кластеров
Метастабильные пики хорошо известны всем, работающим в масс-спектрометрии [81 – 83]. Фрагментация кластеров после их взаимодействия с электронами или фотонами высоких энергий – также хорошо изученный предмет [75 - 80]. Механизмы фрагментации газовых кластеров и агрегатов из органических молекул подобны. Например, было показано [84], что двухзарядные кластеры бензола стабилизируются через распад и последовательное испарение нейтралов. С увеличением числа атомов в кластерах и подводимой энергии картина фрагментации значительно усложняется. Так, при распаде фуллерена С60
на два фрагмента (нейтральный и однозарядный) имеет место 966 466 комбинаций различных масс фрагментов [85].
Получение МЗИ связано с подводом значительной энергии к ионизируемой системе, что приводит к образованию метастабильных кластеров и молекул. Наиболее мешающими фрагментами, совпадающими в масс-спектрах с позициями МЗИ, являются дочерние ионы от моноядерных кластеров [86]. Если время жизни метастабильных ионов соизмеримо с временем их пролета в масс-спектрометре (~ 10-5
с), то часть родительских ионов А
N
+
, состоящих из N
атомов (или молекул) массы A
, достигает коллектора без разложения, а часть распадается на пути от источника ионов к приемнику с образованием дочерних ионов А
X
+
и нейтральных частиц А
(
N
–
X
)
по схеме:
А
N
+
→ А
X
+
+ А
(
N
–
X
)
(1)
Для моноядерных кластеров фрагменты А
X
+
дадут наложения на пики в масс-спектрах с кажущимися массами M*
,
M
* = A
.
X
2
/ N
(2)
где: X
– число атомов (или молекул) массы А
во фрагменте А
X
+
, отделившемся от кластера А
N
. Наложение фрагментов А
X
+
от кластеров разной величины А
N
+
, на сигналы ионов Aq
+
с зарядом q
произойдет в случае выполнения равенства:
q
= N
/ X
2
(3)
При фрагментации гетероядерной частицы, когда дочерний ион массы m
образуется из иона с массой М
[78], его кажущуюся массу М
* в масс-спектре можно определить по формуле:
M
* = m
2
/ M
(4)
Расшифровка масс-спектров значительно усложняется при возрастании кратности заряда родительских ионов и их фрагментов. Изучение сильной фрагментации больших газовых кластеров под действием электронов высоких энергий [79] указывает на необходимость учета вклада от МЗИ (в основном от дважды ионизированных частиц) в распределение кластеров по размерам [87, 88].
4.2.1 Трансляционная энергия фрагментов
Установлено, что уширение пиков в масс-спектрах появляется благодаря конверсии внутренней энергии родительских метастабильных ионов в сверхкинетическую энергию дочерних ионов и нейтральных частиц во время процесса распада [89]. Если реакция распада ионов происходит последовательно, то увеличение средней кинетической энергии ионов является результатом накопления кинетической энергии ионов за счет вклада, вносимого каждым отдельным процессом распада [90]. Согласно теоретическим предсказаниям Клотса [91], рассматривающего метастабильный распад как модель испаряющегося ансамбля, никакой ансамбль кластеров не может быть обозначен уникальным временем жизни благодаря тому факту, что скорости реакций не относятся к ионам, а являются причиной обычной области внутренних энергий после ионизации.
Помимо последовательного испарения частиц с кластера может иметь место интенсивная фрагментация в результате кулоновского взрыва – это когда кулоновский потенциал отталкивания между атомами кластера превращается в колоссальную кинетическую энергию осколков. Однако из расчетов следует, что взрыв большого кластера из атомов ксенона определяется газодинамической силой, а не кулоновским отталкиванием атомарных МЗИ [92]. При взрыве кластеров под воздействием сверхсильного лазерного импульса образуются ионы с энергиями и зарядами, зависящими от размеров кластеров-предшественников. Например, кулоновский взрыв кластеров ксенона приводит к энергии электронов до 3 кэВ, ионов до 1 МэВ и появлению МЗИ до Xe40+
[28].
Кулоновское отталкивание вносит дополнительный вклад в ширину пиков. И когда при распаде иона получаются два заряженных фрагмента, это приводит, в контрасте с реакцией испарения нейтральных частиц, к довольно широким пикам в спектрах кинетических энергий ионов, проанализированных по массе, MIKES (Mass Analyzed Ion Kinetic Energy Spectrum), а в центре пика может наблюдаться минимум вследствие дискриминации [93 – 95]. К примеру, авторы статьи [96], рассматривая самопроизвольную и индуцированную диссоциацию одно- и многозарядных фуллеренов, нашли, что энергия Е
, высвобождающаяся при распаде МЗИ фуллерена С60
7+
по схеме: С60
7+
→ С58
6+
+ С2
+
, составляет 9,7 ± 2,2 эВ, что оказывается примерно в 20 раз больше, чем в случае испарения нейтрального фрагмента углерода С2
из катионов фуллерена С60
+
или из С60
2+
(Е
= 0,43 ± 0,05 эВ и Е
= 0,42 ± 0,05 эВ, соответственно). Трансляционную энергию для этих реакций рассчитывают из ширины пика по формуле, предложенной в работе [97]:
q
1
2
m
2
2
e V
E
= ——————————
· (Δ V
/V
)2
(5)
16 q
2
m
1
m
3
где: q
1
– заряд родительского иона; m
1
– масса родительского иона; q
2
– заряд дочернего, детектируемого иона; m
2
– масса дочернего, детектируемого иона; m
3
– масса недетектируемого фрагментарного иона; V
– ускоряющее напряжение; ∆V
– ширина метастабильного пика. Определение энергии диссоциации одно- и двукратнозаряженных фуллеренов по формуле (5) основано на измерении характеристик осколков, получаемых в результате фрагментации [98]. Однако эти данные могут быть искажены наложениями от метастабильных реакций в различных частях масс-спектрометра [99]. Следует также учитывать, что при синтезе фуллеренов лазерным испарением образуются кластерные ионы углерода [100].
Фрагментация кластеров в ИИ и за их пределами приводит к затруднениям в масс-спектрометрии МЗИ, поэтому далее рассмотрены способы учета этого явления.
5. Анализ возможностей экспериментального учета вклада фрагментарных ионов в масс-спектры МЗИ
Ориентиром присутствия осколочных ионов в пучках МЗИ (если учтены примеси и другие влияния на измеряемые сигналы) являются пики в масс-спектре, не соответствующие ожидаемым положениям для ионов m/q
(m
– масса атома, q
– заряд иона). В полной мере это относится и к пропусканию голых ядер через мишени. Другой ориентирующий фактор наличия фрагментации – это изменение изотопных отношений для элемента в масс-спектрах МЗИ при переходе от одной кратности заряда иона к другой.
5.1 Метод определения заряда альфа-частиц
Резерфорд и Гейгер экспериментально определяли общее количество альфа-частиц сцинтилляцией, а затем с помощью приемника ионов измеряли суммарный заряд известного количества частиц [101]. Из отношения общего заряда к количеству ионов, несущих этот заряд, получили заряд альфа-частицы. Применяя данную экспериментальную схему, можно оценить заряд ионов, выделенных анализатором. (При определении общего заряда важно подавить электронную эмиссию с приемника ионов). Одной из причин отклонения от кратности заряда иона, полученной этим способом, является присутствие фрагментарных ионов в анализируемом пучке.
5.2 Изотопно-разрешаемая масс-спектрометрия
Открытие фуллеренов заставило искать способы различения ионов фуллеренов и их фрагментарных ионов с равным отношением заряда к массе. Для ионов, получаемых методом электронного удара, невозможно различить фрагментарные ионы и МЗИ фуллеренов, С60
q+
, с равным отношением заряда к массе, q
/m
, выбором различных, разумных потенциалов появления, т.к. все эти частицы производятся эффективно только при высоких энергиях электронного удара [102]. Недвусмысленная идентификация ионов С60
q
+
, в присутствии их фрагментов с равными q/m
, может быть достигнута только способом изотопно-разрешаемой масс-спектрометрии (или масс-спектроскопии высокого разрешения) [89, 95]. Например, в работе [103], действие электронного удара на фуллерены С70
дает нефрагментарные родительские ионы C70
q
+
и различные МЗИ CN
q
+
(N
= 36 – 70 и q
= 1 – 5). При этом в масс-спектре существуют наложения между С15
+
, С30
2+
, С45
3+
, С60
4+
. Однако, т.к. углерод имеет два изотопа: 12
С (98,89 %) и 13
С (1,11 %), выход ионов кластеров углерода данного размера N
будет включать ионы, с хорошо определяемым распределением масс, которое может быть рассчитано для относительной вероятности Р
по формуле:
(a + b
)!
P
(12
Ca
13
Cb
) = ———————
· P
(12
C
) a
· P
(13
C
) b
a
!
· b
!
где: а
и b
– стехиометрические коэффициенты. В случае МЗИ кластеров массовый пик, содержащий изотоп 13
C, всегда имеет нецелое отношение масса/заряд и, следовательно, свободен от наложений (исключение составляют ионы C30
2+
с одним изотопом 13
C, совпадающие с ионами 13
C60
4+
, содержащими два изотопа 13
C).
Возможности изотопно-разрешаемой масс-спектрометрии ограничены присутствием примесей в системе. Приведенные в работе [104] интенсивности изотопов для разных зарядовых состояний значительно различаются в результате присутствия водорода, кислорода и углерода. Достаточно присоединения одного атома водорода к фуллерену, чтобы серьезно осложнить расшифровку масс-спектра. Во многих экспериментах отмечают присутствие ионов водорода. Например, в работе [105], наблюдение голых ядер углерода, азота и кислорода было затруднено из-за наличия водорода. В масс-спектрах, описанных в статьях [14, 106], присутствуют значительные пики ионов водорода. Использование низких температур может дать вклад в масс-спектры МЗИ от фрагментов водородных кластеров, т.к. при температуре жидкого азота существуют ионы Н2
+
, Н3
+
, Н5
+
, а кластеры (Н2
)N
образуются при температуре 20 – 30 К [107]. О роли водорода также говорит присутствие анионов гидридов тантала и ниобия в масс-спектрах, получаемых при ионном распылении чистых металлов [108]. Еще более примечателен пример получения МЗИ титана ионизацией его летучего органического соединения [15]. Изотопные отношения для титана, рассчитанные из его масс-спектра, показали значительное расхождение в сравнении с известным изотопным составом. Для массовых чисел: 46, 47, 48, 49 и 50 Да соответственно получили, в %: 6,2 (8,0); 15 (7,3); 54,5 (73), 21 (5,5) и 4,7 (5,4). (Вии этомчении МЗИ сравнении с а, где скобках приведено естественное содержание изотопов). Авторы предполагают вклад в масс-спектры от частиц TiH. Влияние водорода подтверждается и в работе [108], где при распылении пленки С84
высокозаряженными ионами ксенона, Хе44+
, появлялись гидрогенизированные кластеры углерода, и были получены мультиплеты пиков гидридов кластеров углерода CN
(N
= 7 – 11) с количеством атомов водорода 1 – 3. В аналогичных экспериментах [110] распыление пленок фуллеренов мегаэлектроновольтными ионами приводило к образованию гидрированных кластеров углерода. Вышеизложенное по фуллеренам перекликается с работой [111], в которой метод плазменной десорбции рассматривается как один из способов образования гидридов фуллеренов и отмечается, что присоединение атома водорода к С60
+
в газовой фазе осуществляется очень эффективно. Указывается также на возможность гидрирования молекул фуллеренов и других кластеров углерода CN
при лазерном испарении графита в атмосфере водорода.
Еще одним фактором, способным повлиять на возможности (не только) изотопно-разрешаемой масс-спектрометрии, является дополнительная кинетическая энергия, получаемая осколками при фрагментации молекул или кластеров. Например, в работе [43] показано, что МЗИ атомов, полученные из молекул, содержащих два атома с сопоставимыми массами, имеют пики, сдвинутые к более высоким отношениям m
/q
по сравнению с одноатомными целями. Причем, эти сдвиги увеличиваются с увеличением кратности заряда атомного иона вследствие их первоначальной кинетической энергии, получаемой в результате кулоновского взрыва молекулярных МЗИ. Энергетические сдвиги МЗИ наблюдались для молекул: N2
, CH4
, С2
Н2
, NO, N2
O, NO2
, CO, CO2
, SF6
и I2.
Вероятно, из-за отмеченных выше осложнений для изотопно-разрешаемой масс-спектрометрии, авторы работ [102, 103] дополнительно используют другой, по их мнению "значительно более точный, чем масс-спектрометрия высокого разрешения", способ определения соответствующей части ионов фуллеренов С60
q
+
и совпадающих с ними менее заряженных фрагментарных ионов в смешанных ионных пучках.
5.3 Кинетическая электронная эмиссия с чистой металлической поверхности
Метод кинетической электронной эмиссии исходит из предположения, что при определенной скорости столкновения кинетическая электронная эмиссия с чистой металлической поверхности, бомбардируемой большими молекулами или кластерами (СN
)q
+
, пропорциональна числу частиц N
, составляющих молекулу, тогда как никакой зависимости от заряда q
не наблюдается [103]. Так, в работе [112] нашли, что при столкновении кластеров (СN
)q
+
с атомночистой поверхностью золота выход электронов линейно зависел от размера кластера (N
до 60, заряд кластера q
≤ 5) и кинетической энергии (здесь до 165 кэВ). При этом полностью подавлена потенциальная электронная эмиссия, т.е. выход эмиссии электронов не зависит от зарядового состояния иона-снаряда (факт, который находится в противоречии с известными данными для атомных МЗИ).
В данном методе следует учитывать фрагментацию частиц до чистой металлической поверхности, т.к. фрагменты (в том числе и нейтральные) при достаточной их энергии дадут свой вклад в кинетическую электронную эмиссию.
5.4 Распознавание фрагментарных ионов по ширине пика
Исходя из положения, что ионы, образующиеся через недиссоциативную ионизацию, имеют малую внутреннюю энергию, а ионы после диссоциативной ионизации имеют избыточную энергию, распределяющуюся по степеням свободы продуктов, можно осуществить проверку состава пучков, выходящих из ИИ [74].
Для определения энергии ионов из ширины пика используют метод MIKES [81, 94, 95], выполняемый на масс-спектрометре с обращенной геометрией (магнитный каскад предшествует электростатическому анализатору). Настраивая магнитное поле на определенный родительский ион и снижая затем напряжение электростатического анализатора, регистрируют все дочерние ионы, образовавшиеся в области между магнитным и электростатическим каскадами (во второй бесполевой области). Для усиления фрагментации можно использовать метод диссоциации, активированной столкновением, CAD (Collisionally Activated Dissociation). При этом ячейку для столкновений, расположенную во второй свободной от полей области масс-спектрометра, заполняют молекулярным азотом [113] или другим легким газом (H2
, He) под давлением порядка 10-1
Па [81].
Следует учитывать, что определение формы MIKE-пиков с высоким разрешением требует очень тщательной настройки прибора. При изучении действия инструментальных параметров на форму MIKE-пика в работах [94, 114] было показано, что KER надежно производится из метастабильных пиков в MIKE-спектрах только при идеализированных условиях. На практике же разрешение, ширина щелей, распределение кинетической энергии родительских ионов, расхождение пучка ионов, аберрации магнитных и электрических полей влияют на форму пика и могут привести к появлению блюдообразных (dished) пиков [94, 103, 115, 116]. Блюдообразность – наличие минимума в средней части пика – значительно увеличивается, когда фрагменты появляются в результате кулоновского взрыва [117].
Представляется сложным отличить МЗИ от фрагментарных ионов по ширине и форме их MIKE-пиков, когда ионы с высокой кратностью заряда сами получаются ионизацией осколков. Зависимость ширины пиков МЗИ от их заряда q
показана в работе [14], где из разрешения на магнитном анализаторе спектров 16
О7+
и 18
О8+
(при ускоряющем напряжении V
= 7 кВ) получили, что уширение энергии ∆U
составляет порядка 145 эВ и зависит от заряда иона q
, как: ∆U
≈ 20∙e
∙V
∙q
. В источнике NICE EBIS [118] оказалось, что ширина пиков МЗИ зависит от заряда иона примерно как 0,8∙q
эВ. В источнике EBIS для тяжелых МЗИ [119] получили зависимость ширины пика от заряда иона меньше, чем: q
∙50∙e
∙V
. Для ECR-источника, при типичных выходных отверстиях, разброс по энергиям составляет около (5 ∙ q
) эВ, для отверстий меньшего диаметра наблюдался разброс по энергиям: (1 ∙ q
) эВ [12].
В дополнение к сказанному следует учитывать, что форма пиков сглаживается в масс-спектрометрах с двойной фокусировкой, т.к. существует некоторое фокусирование ионов по углам, пространству и малым вариациям кинетической энергии [120].
5.5 Способ различения отрицательных многозарядных и фрагментарных ионов
В процессе снятия масс-спектров отрицательных ионов йода удалось установить целый ряд пиков, которые соответствовали ионам с половинной массой по отношению к известному аниону йода, I-
. Схема установки, на которой были исследованы двухзарядные анионы йода, приведена в работе [121]. Также были изучены дианионы других галогенов, кислорода, теллура и висмута. Способ различения фрагментарных ионов и дианионов оказался подобным методу MIKES (п.5.4).
5.6 Роль фрагментации кластеров в линейной времяпролетной масс-спектрометрии
Для выявления фрагментарных ионов в пучках МЗИ может оказаться успешным использование линейной времяпролетной масс-спектрометрии, TOFMS (Time-Of-Flight Mass Spectrometry) [122]. Однако присутствие кластеров в ИИ и здесь приведет к экспериментальным осложнениям. Для оценки сложности расшифровки времяпролетных масс-спектров (ВП-спектров) рассмотрим ряд примеров.
В работе [123] на ВП-спектре дикатиона D2
2+
, который был получен облучением интенсивным лазерным светом молекул дейтерия, появляется триплет: два пика от фрагментов катиона дейтерия, D+
, устремленных вперед и назад от направления движения при диссоциации дикатиона, D2
2+
; третий пик образуется при диссоциации катиона D2
+
.
В другом случае [124], при рассмотрении вклада в ВП-спектры нейтральных и ионизированных фрагментов кластеров калия, было показано, что если нейтральные кластеры имеют термальные энергии, то ширины их времяпролетных пиков очень велики – около нескольких миллисекунд, и их спектров не существует. Получая же избыточную энергию при лазерной фрагментации, кластеры достигают приемника гораздо быстрее и с хорошо определяемыми времяпролетными пиками. В этом случае наблюдаются пики как ионов, так и нейтралов, причем нейтралы не изменяют своих позиций в ВП-спектрах. Существуют сильные вариации ВП-спектров кластерных ионов калия KN
+
в зависимости от выталкивающего напряжения. Так, при нулевом выталкивающем напряжении не было видно пиков ионов калия KN
+
(с N
< 6), тогда как существовали пики нейтральных частиц.
В работе [125] отмечается важное требование к аппаратуре для чувствительных ВП измерений фрагментарных ионов, производимых кулоновским взрывом. Необходимо высокое время разрешения детектора, т.к. фрагментарные ионы, производимые кулоновским взрывом достигают детектора за короткий интервал времени – обычно несколько десятков, сотен наносекунд.
В случае, описанном в работе [43], времяпролетный анализ продуктов диссоциации от столкновения МЗИ аргона, Ar13+
, имеющих энергию 40 МэВ, с молекулярным кислородом, показал присутствие пиков О2+
, О3+
и О4+
, разбитых на дублеты в ВП-спектре низкоэнергетических ионов.
В работе [95] также отмечается, что распад частиц во время пролета вперед, сонаправленно движению пучка ионов, и назад, противонаправленно, дает пики-дублеты.
В ионных источниках, применяемых в TOFMS, период следования выталкивающих импульсов должен превышать время пролета самых тяжелых ионов [11]. При наличии кластеров с большой массой возможны наложения.
В линейных ускорителях нерезонансные, т. е. неускоряемые радиочастотным полем ионы, достигают детектора TOFMS, но имеют постоянную локализацию в ВП-спектре, вне зависимости от амплитуды радиочастоты, только наблюдается расширение сигнала [126].
Если в TOFMS до приемника ионов используются какие-либо задерживающие, отклоняющие, фокусирующие поля, то может происходить разделение родительских ионов и фрагментов, а, следовательно, появление в ВП-спектре сигналов фрагментарных ионов и нейтралов. В работе [104] отмечается особенность TOFMS, которая состоит в наличии двух электростатических линз: 1-ая линза – "электронный коллектор – вытягивающий электрод"; 2-ая линза – "вытягивающий электрод – трубка дрейфа". Ионы с разными значениями m
/q
испытывают неодинаковые воздействия при прохождении этих линз, что приводит к тому, что у анализатора появляются слабовыраженные свойства резонансности, которые необходимо учитывать.
В результате периодического действия ИИ в TOFMS, выход из него фрагментарных катионов, анионов, нейтральных частиц происходит через определенные интервалы времени, и в дрейфовой трубке может образоваться периодическая структура пучка частиц. На этих волнах плотности могут происходить процессы изменения состава ионных пакетов: ион-молекулярные реакции, обдирка, перезарядка, фрагментация.
Метастабильный распад больших кластеров может быть виден как вторичные пики при меньших временах детектирования. Поэтому был предложен новый ВП метод анализа выделения энергии в кулоновском взрыве кластеров [127], позволяющий детектировать частицы очень высоких энергий, в отличие от обычного ВП-рефлектрона.
5.8
Изучение фрагментации кластеров методом совпадений
Для изучения метастабильного распада и определения незаряженных фрагментов в пучках ионов используют метод совпадений [128 – 130]. На TOFMS-рефлектроне для каждого распада, происходящего в области после ускорения и до электростатического зеркала, заряженные фрагменты, отраженные зеркалом, детектируются одним приемником ионов, а нейтральные фрагменты, проходящие сквозь зеркало, детектируются вторым приемником. Данный метод можно использовать для определения присутствия кластеров в ИИ по их нейтральным фрагментам.
Другой метод изучения фрагментации метастабильных частиц, используя преимущества рефлектрона как энергоанализатора, применялся в экспериментах лазерной десорбции [131], а позднее был развит в технику распада после источника ионов, PSD (Post Source Decay). В этом методе [132] напряжение зеркала уменьшается до тех пор, пока анализируемый пик не исчезает; затем напряжение зеркала делится ускоряющим напряжением, равным отношению масс дочерних и родительских ионов. План практического определения фрагментарных ионов и их предшественников дан в работе [128]. К трудностям постановки эксперимента можно отнести: малость пиков, получаемых от метастабильного распада, по сравнению со стабильными частицами; нейтральные фрагменты сидят на высоком фоне; слишком большой выход нейтральных фракций; присутствие МЗИ осложняет расшифровку масс-спектров.
5.8 Трудности масс-спектрометрического эксперимента
При постановке экспериментов на динамических и статических масс-спектрометрах встречаются схожие проблемы. Рассмотрим далее некоторые из них.
Отложенная электронная эмиссия играет доминирующую роль в динамике ионизации фуллеренов [133 – 135]. Возбужденные фуллерены, полученные действием лазерных импульсов [133], движутся к оси выходной щели ИИ в течение некоторого периода времени. Положение, при котором эти частицы ионизируются в области ускорения, будет определять их трансляционную энергию. В спектрах катионов углеродных кластеров могут быть наложения от фуллеренов, полученных с задержкой ионизации. Степень интерференции зависит от таких параметров, как размеры ИИ, положение ионной задвижки во времяпролетной трубке, трансляционной энергии ионов и т.д. Эти интерференции не ограничиваются фуллеренами, но должны учитываться всегда, когда ионы образуются с определенной задержкой после возбуждения, что наблюдается для металлуглеводородных кластеров [136] или при автоионизации возбужденных катионов [50].
Процессы, обратные фрагментации – реакции коалесценции – дают вклад в сигналы катионов кластеров углерода, близкие к кратным массам первичных фуллеренов [133]. Было найдено, что коалесценция имеет место даже без использования буферного газа, а образование анионных частиц может быть столь же эффективным, как и катионов [134]. Значительные наложения могут наблюдаться в PSD масс-спектрах, что легко приведет к некорректной интерпретации экспериментальных результатов.
Масс-спектрометры детектируют высокоэнергичные фрагментарные ионы со значительной дискриминацией [137, 138], что сильно влияет на определяемые сечения ионизации.
В ИИ типа EBIS [119] при производстве тяжелых МЗИ наблюдались пики сателлитов, т.к. анод находился под потенциалом на 2 кэВ выше, чем ионизационная трубка (UI
= 13 кВ), и ионы, генерируемые в этой области, получали дополнительную энергию ~ 2 кВ. Однако интенсивности пиков-сателлитов в масс-спектрах быстро уменьшаются с увеличением зарядовых состояний.
Коллективное ускорение ионов интенсивным релятивистским пучком происходит, когда пучок электронов попадает в разряженный газ и ионизирует его, ускоряя часть ионов газа до энергий значительно превосходящих энергию электронов. Механизм ускорения пока окончательно еще не выяснен, но присутствие схожего эффекта (с нерелятивистскими электронами), и, следовательно, искажение масс-спектра возможно в источниках EBIS (п.2.2) и EBIT (п.2.3).
При разлете плазмы ионы ускоряются как за счет газодинамической силы, так и за счет действия напряжения [139, 140]. Ионы, образующиеся в ИИ: лазерных, дуговых, искровых, ECR, PIG-типа и др., получая прирост энергии от обоих процессов, могут усложнять масс-спектр, т.к. именно плазменная струя является средой, из которой вытягивается ионный пучок.
В областях, свободных от полей, ионы могут разряжаться электронным захватом в ион-атомных столкновениях, что в масс-спектре проявляется как МЗИ меньшего заряда [119]. Результат такой нейтрализации подобен присоединению в свободном от полей пространстве N
нейтральных частиц массы А
к иону А
K
+
по схеме: AK
q
+
+ A
→ A
q
+
(
K
+
N)
.
Наибольшее загрязнение пучков МЗИ происходит фрагментами от сложных частиц, поэтому далее оценивается возможность образования кластеров в условиях производства МЗИ.
6. Анализ возможности образования кластеров при получении МЗИ
<
В более мягких условиях ионизации конденсированной фазы также есть условия для кластерообразования. Например, в жидкометаллических ионных источниках, LMIS (Liquid Metal Ion Source), в процессе эмиссии мономерных ионов образуются и полимерные, доля и размер которых возрастают с ростом тока, а при достаточно больших токах существенная часть потери массы связана с заряженными микрокаплями [141]. Механизм образования кластеров не совсем понятен. Так, в LMIS, работающих на металлах групп IVA и VА, заметен значительный вклад кластерных ионов, а в работающих на металлах группы IIIА этот вклад относительно невелик. В работе [142] предложен механизм кластерообразования в ИИ данного типа.
При ионизации методом электрораспыления, ESI (Electrospray Ionization) [143], заряженные капли производятся при атмосферном давлении, а газообразные МЗИ образуются из капель в нагретом капилляре, что не исключает образования кластеров.
Методом матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации, MALDI (Matrix Assisted Laser Desorption-Ionization), ионизируют нелетучие нестойкие вещества. При этом лазерная энергия поглощается матрицей, а сложный компонент не успевает разложиться. Он выносится в газовую фазу испаряющейся матрицей и быстро охлаждается при адиабатическом расширении облака молекул матрицы [144]. В этом случае создаются подходящие условия для образования кластеров.
6.1. Ввод в плазму металлов
6.1.1. ECR-и
cточник для производства МЗИ металлов.
В ионном источнике LBL-ECR (п.2.1.1.) атомы испаренного металла выходят из печи, размещенной во второй ступени источника, попадают в ECR-плазму и ионизируются электронным ударом [12]. Плазма поддерживается введением на первой ступени опорного газа (азота или кислорода). Аналогично, при получении кластеров, атомный пар, образующийся в печи, далее расширяется вместе с буферным газом через сопло в вакуум. Например (п.3.1.2), поток испаренных атомов вольфрама, полученный из металлического вольфрама при температуре около 4500 К, остывает при столкновениях с атомами аргона и в конечном итоге объединяется в кластеры [57]. Роль буферного газа сводится к уносу лишнего тепла, что способствует росту кластеров [55].
6.1.2. Электрические разряды.
Электрические разряды широко применяют не только для получения кластеров, это также эффективный способ производства МЗИ. В PIG-источнике (п.2.4) давление в разряде Пеннинга высокого давления составляет более 0,1 Па, и катоды постепенно расходуются в результате бомбардировки высокоэнергичными ионами. В ИИ с вакуумной дугой (п.2.6) плазма состоит из вещества катода. В ИИ MEVVA [30, 31] – вакуумная дуга в парах металла является плазменным разрядом между двумя металлическими электродами в вакууме.
При получении кластеров распыление жаропрочных металлов может осуществляться с помощью газового разряда, если он обеспечивает высокую эрозию материалов [55]. Магнетронный разряд вызывает распыление катода и может быть эффективным генератором кластерных пучков. Для генерации кластеров используют давление буферного газа аргона10 – 100 Па. Разряд с полым катодом (тлеющий разряд) характеризуется еще более высокой эффективностью распыления катода под действием ионного тока и также подходит для образования атомного пара, который далее преобразуется в кластеры.
6.1.3. Ввод металлсодержащих молекул в плазму.
В источнике ионов MIVOC используется ввод летучих соединений металлов в плазму буферного газа (п.2.1.2). Аналогично этому (п.3.1.2) возможно образование кластеров в плазме высокого давления из галогенидов жаропрочных металлов [56, 64]. В обзоре [64] отмечается, что введение в плазму молекул, содержащих металлические атомы, является методом генерации интенсивных атомных пучков для кластерных источников света.
6.1.4.
Ввод в плазму аэрозолей.
В аналитической масс-спектрометрии часто прибегают к вводу в плазму аэрозолей. (Сп.Ч.1). В тех ИИ, микроволновой разряд, дуговой разряд, высокочастотная индуктивно-связанная плазма, ICP (Inductively Coupled Plasma) [10, 145 – 147] и др., куда исследуемое вещество вводится в виде аэрозолей, – кластеры образуются, аналогично методу их получения вводом аэрозолей в плазму (п. 3.1.1). После десольватации аэрозоля получаются микро/нано частицы (кристаллики оксидов, галогенидов и т.п.), которые далее испаряются и/или распыляются ионами и электронами плазмы, давая атомы, ионы и кластеры. При этом малые кластеры также будут образовываться и расти из атомного пара и ионов в областях с более низкой температурой.
6.1.5. Лазерное испарение вещества.
Лазерная плазма – это источник одно- и многократно ионизированных атомов (п.2.5), отрицательно заряженных ионов, нейтральных атомов и кластеров (с малой и большой энергией) [9, 148].
6.2 Вторичная ионная эмиссия.
В результате вторичной ионной эмиссии образуются как кластеры (п.3.3), так и МЗИ (п.2.1.1). В источнике Minimafios (п.2.1.1) используется ионное распыление (или испарение) пленки металла, сконденсированной на стенках второй ступени ИИ. О роли ионного распыления также говорит тот факт, что наилучшие пучки ионов йода были получены из йода, адсорбированного на стенках камеры с плазмой [12].
Интересная корреляция обнаружена при изучении эмиссии МЗИ с кристаллов галогенидов щелочных металлов между энергетическими порогами выхода распыленных МЗИ и молекулярных ионов [149]. Одновременно с образованием МЗИ появляются молекулярные ионы – источники фрагментарных ионов, дающие вклады в масс-спектры МЗИ.
В работе [148] отмечается, что в лазерном ИИ значительная часть газа образуется в результате фотодиссоциации вещества, адсорбированного на стенках камеры (под действием рентгеновского и ультрафиолетового излучения плазмы).
В PIG-источнике (п.2.4) пучок МЗИ получался лучше, когда один край щели вытягивающего электрода прикрывал часть выходящего пучка. Одна из возможных причин – это распыление (срыв) ионами отложений со щели и их фрагментация; другая – поверхностно-индуцированная диссоциация, SID (Surface-Induced Dissociation), частиц, выходящих из ИИ.
В ИИ с индуктивно связанной плазмой обнаружено образование полиатомных ионов: AuX
, AgX
, NiX
, CuX
и AlX
, (где X
: Ar, O, N и H) из материала детали масс-спектрометра (скиммера) [150].
В образовании отложений и в распылении участвуют ионы и нейтральные частицы, получающиеся в ИИ. Например, из-за неполного удержания плазмы в ЭЦР-источниках (п.2.1.), из нее непрерывно движется поток ионов. Каждый ион проходит несколько циклов перехода из плазмы на стенки и обратно, прежде чем выводится из системы в виде ускоренного пучка или откачивается вакуумными насосами в виде нейтрального газа. В PIG-источниках (п.2.4) время удержания ионов также ограничено за счет поперечной диффузии через осевое магнитное поле, происходящей с аномально большой скоростью. Уход энергичных ионов на стенки источника происходит также в источниках EBIS (п.2.2) и возможен в EBIT (п.2.3).
6.3 Использование криогенных температур при получении МЗИ.
Достижение низких температур является важным условием образования газовых кластеров (раздел 3). Для получения высокого вакуума и сильных магнитных полей в ИИ применяют криогенные температуры. Например, в экспериментах с газовыми МЗИ [118] пролетная труба TOFMS охлаждалась до 4,2 К; в работе [151] температура капиллярной трубки натекателя понижалась до 78 К, что не препятствовало инжекции рабочего газа в электронный пучок. Когда поверхность магнита охлаждалась жидким гелием, она работала как криогенный насос [152]. Значительное понижение температуры ИИ приводит к образованию пленок газов на его деталях.
6.4 Образование кластеров при ионизации газов
Газовая плазма кажется менее всего отягощенной присутствием кластеров, и есть опасность игнорирования кластерообразования при интерпретации масс-спектров МЗИ газов.
Анализ возможности появления кластеров при производстве МЗИ осложняется неполной изученностью всех физических явлений, лежащих в основе действия ИИ. При этом "основные принципы – это скорее набор гипотез, общепринятых среди исследователей, работающих c ионными источниками, а не экспериментально подтвержденные факты" [12]. К тому же, методы производства кластеров относятся к пучкам больших, стабильных частиц, получаемых в достаточных количествах, тогда как для масс-спектрометрии МЗИ может оказаться критичным присутствие незначительного числа малых метастабильных кластеров, т. к. сечения образования ионов с высокой кратностью заряда очень малы. Увеличение же выхода МЗИ обычно сопровождается ростом кластерообразования и фрагментации.
Для образования газовых кластеров обычно требуется выполнение одного или нескольких условий: низкая температура, высокое давление, присутствие буферного газа, наличие ионов, большое число столкновений ионов с нейтральными частицами. Имеют ли место перечисленные условия при производстве МЗИ газов?
В источнике ECR (п.2.1) электроны нагреваются селективно, оставляя ионы холодными (~ 1 эВ). Первая ступень ЭЦР-источника – ступень инжектора плазмы – это источник холодной плазмы, действующий при повышенном давлении, где имеет место огромное число столкновений между частицами. Потери МЗИ определяются в основном перезарядкой с нейтральными атомами в плазме (и потерями при удержании). Сечение перезарядки между МЗИ и нейтралами на 3 – 4 порядка превышает соответствующие сечения ионизации электронным ударом, а скорости реакций пропорциональны скоростям сталкивающихся частиц [12]. Когда источник ЭЦР работает с газами тяжелее кислорода – используется смесь газов.
В PIG-источниках ионов (п.2.4.) давление в разряде Пеннинга высокого давления составляет более 0,1 Па, что может оказаться достаточным для образования малых кластерных ионов.
Ввод газа через натекатели в ИИ может привести к образованию кластеров так же, как при их генерации расширением газа через сопло (п.3.5). В длинных соплах (при неадиабатических условиях расширения газа) из-за передачи тепловой энергии стенкам сопла выход кластеров увеличивается [55].
При высоких скоростях откачки (для получения высокого вакуума в приборе) возможно обогащение кластерами пучка газов, вводимых в ИИ. Например, когда плазма послесвечения движется после сопла, атомные частицы рассеиваются и откачиваются из плазмы, тогда как столкновение кластера с атомами не ведет к заметному рассеянию из-за его большой массы, и через некоторое время поток плазмы с кластерами превращается в поток кластеров [55].
Характеристики плазмы (температура, давление, плотность) и состав различаются в зависимости от участка ИИ. Образование кластеров из испаренного пара происходит в любой газовой системе с переменной температурой, и они появляются не в горячей плазме, а в плазме послесвечения [153].
Газовые ИИ по всему объему заполнены газом – средой для ион-молекулярных реакций и охлаждения.
Для получения газовых МЗИ обычно используют смеси газов. Для эффективного образования кластеров присутствие буферного газа также необходимо.
Стабильность кластерных ионов выше, чем нейтральных кластеров аналогичного состава. Например, ион Не+
2
прочнее, чем частица Не2
[70]. В исследованиях одномолекулярной диссоциации нестехиометрических кластеров кислородных ионов ОN
+
(N
= 5, 7, 9, 11) указывается на большую прочность ионных кластеров, чем нейтральных [78]. В слабоионизированной газоразрядной плазме разных типов (при нормальной температуре и средних давлениях) кластерные ионы присутствуют в заметном количестве [53]. При пониженных температурах или при высоких давлениях кластерные ионы составляют основную часть ионов в слабоионизированном газе (п.3.4). При температуре жидкого азота существуют ионы Н2
+
, Н3
+
, Н5
+
, а кластеры (Н2
)N
образуются при температуре 20 – 30 К [107].
Газоразрядная плазма локально охлаждается при попадании в нее кластеров или капель постороннего материала. При испарении капель и частиц также происходит резкое повышение давления в прилегающих к ним областях. Это происходит при распылении в плазму аэрозолей и мелкодисперсных порошков, при лазерном испарении, в вакуумной дуге и искре, вторичной ионной эмиссии. Степень охлаждения и скачки давления зависят от массы, температуры и природы вводимого материала. В работе [55] отмечается, что если металлические атомы образуются в плазме буферного газа в результате распада введенных туда металлосодержащих молекул, то для протекания процесса разрушения газу необходимо сообщить заметную удельную энергию. Этот процесс сопровождается охлаждением буферного газа, что способствует кластерообразованию.
Условия для образования комплексных соединений газов в ИИ возникают, когда распыленные в них кластеры и капли собирают на себя газовые ионы плазмы, а затем, в результате столкновений или других процессов, оболочка теряется в виде газовых кластеров. Так, например, при лазерном распылении материалов в атмосфере инертных газов, образуются смешанные кластеры углерода, кремния и германия с Ar, Kr и Xe [62]. Согласно экспериментальным и теоретическим исследованиям [154] молекула C+
–A r является очень стабильной, с энергией связи порядка 1 эВ, а малые кластеры CN
+
очень активны. В ИИ с индуктивно-связанной плазмой также образуются полиатомные ионы [150]. Здесь, вероятно, можно провести некоторую аналогию с агрегатным генератором кластеров (п.3.6). Гидриды фуллеренов образуются очень эффективно (п.5.2).
Тот факт, что основными методами детектирования кластеров являются масс-спектрометрические, показателен с точки зрения возможности образования стабильных газовых кластеров. Ионизация газовых кластеров осуществляется при довольно высоких энергиях электронов, порядка 100 эВ и выше. О прочности кластеров инертных газов (Ar, Kr, Xe) говорит энергия электронов (≤ 1,5 кэВ), которая применялась при изучении их фрагментации [79].
В связи с тем, что некоторые свойства газов хорошо описываются, исходя из присутствия в них кластеров [155, 156], можно допустить их изначальное присутствие в газах.
6.5 Кластеры в источниках EBIT
EBIT – это один из основных ИИ для получения пучков голых ядер. Существование "теплых" источников МЗИ типа EBIT (п.2.3) и EBIS (п.2.2) вынуждает сделать предположение о вторичности охлаждения для образования кластеров в этих ИИ. Механизм кластерообразования в EBIT можно представить следующим образом. Поток электронов (электронный ветер) оказывает колоссальное давление на ионы, удерживаемые в электронном пучке его пространственным зарядом и подходящим распределением электрического поля вдоль ловушки. Сильное магнитное поле сжимает пучок электронов с захваченными ионами к оси ловушки до огромных плотностей тока (до 5000 А/м2
[7]). Получается кузница кластерных ионов (или плазменных кристаллов), где наковальня – электрическое поле, удерживающее ионы; стенки пресс-формы – магнитное поле, а пресс (или молот) – электронный пучок. При этом электроны дополнительно являются нейтрализатором МЗИ. Давление огромно, столкновений множество, плюс – нейтрализатор.
Понижение температуры ионов возможно за счет испарительного ион-ионного охлаждения (п.2.3.), когда вводится дополнительно буферный газ (который также необходим для производства кластеров). Помимо отбора тепла буферным газом в EBIT можно предположить дополнительные виды охлаждения: радиационное, магнитное (по аналогии с магнитным охлаждением ядер), электронное (подобно охлаждению электронами ионных пучков в накопительных кольцах ускорителей).
В EBIT также можно предположить образование упорядоченных структур, как в накопительных кольцах ускорителей (см. далее п.7.3) или ионных кулоновских кристаллов, как в ловушках Пеннинга и Пауля [157].
Пучки низкозарядных ионов, которые инжектируются в EBIT из ИИ, например: из MEVVA [30, 31] или из искрового ИИ [25] изначально не являются одноатомными.
6.6 Ионизация ионов пересекающимся электронным пучком
Основная проблема получения МЗИ методом пересекающихся пучков связана с малыми сечениями ионизации ионов. Например в [44], при ионизации пучка катионов гелия Не+
электронным ударом токи Не+
и Не2+
отличались примерно в 108
раз! Понятно, что в данном случае огромное значение имеет учет самых незначительных факторов. Изучение ионизационных столкновений электронов с ионами [158] по схемам:
А
+
+ е
→ А
2+
+ 2е
(6)
А
2+
+ е
→ А
3+
+ 2е
(7)
показало, что выход вторичных ионов в процессах (6) и (7) сопряжен с учетом большого фона, который накладывается на измеряемые токи ионов А
2+
или А
3+
. При измерении ионных токов в области максимумов кривых ионизации всех рассмотренных ими ионов наблюдался фон до 20 % от полного тока. Исходя из малых сечений ионизации ионов, при таком большом фоне в ионном пучке можно допустить образование МЗИ из частиц фона (или принятие за таковые фрагментов частиц фона).
Появление в ионных пучках сложных частиц (и их фрагментов) может быть вызвано тем, что ионизация пучка ионов электронами (или лазерными фотонами) приводит к смещению траекторий части ионов вследствие электронного давления (подобно электронному ветру в плазменных ускорителях) или светового давления (как в радиационных ускорителях). Это вызывает ион-ионные и ион-молекулярные взаимодействия в присутствии нейтрализующих электронов (первичных или вторичных).
7. Кластерообразование в ускорителях
7.1 Изменение состава пучка ионов при его формировании, транспортировке, перезарядке
Примером изменений, происходящих с пучком ионов при перемещении, могут служить каналовые лучи [159]. Если в катоде существует узкое отверстие (как, например, в ИИ PIG-типа (п.2.4)), то положительные ионы, движущиеся в темном катодном пространстве, проходят через отверстие и образуют в закатодном пространстве пучок каналовых лучей. На пути такого пучка газ светится. Вследствие явлений перезарядки (и/или обдирки) пучок состоит также из быстрых нейтральных молекул или атомов, отчасти возбужденных, и из отрицательных ионов. Под действием магнитного поля каналовый луч распадается на три пучка: положительный, отрицательный и нейтральный. При повторном пропускании каждого из пучков через магнитное поле, каждый из них вновь распадается на три пучка. Это говорит о постоянных превращениях пучков ионов и нейтральных частиц.
В [160] отмечается, что реальные пучки ионов редко бывают ламинарны, и в любой точке пространства существуют траектории частиц, наклоненные относительно главной оси, что приводит к неламинарному потоку, и, следовательно, к взаимодействию в пучке.
При больших скоростях откачки (для получения высокого вакуума) возможно обогащение кластерами пучка ионов, выводимых из ИИ. Это аналогично процессу получения кластерных пучков [55], когда плазма послесвечения движется после сопла, атомные частицы рассеиваются и откачиваются из плазмы, тогда как столкновение кластера с атомами не ведет к заметному рассеянию из-за его большой массы, и через некоторое время поток плазмы с кластерами превращается в поток кластеров.
В работе [161] говорится, что реакции ионов с нейтральными молекулами могут происходить во время перемещения пучка в масс-спектрометре от источника к детектору, что приводит к усложнению масс-спектров, наблюдаемых при высокой чувствительности, которая необходима при анализе МЗИ.
Процессы, происходящие с пучками в масс-спектрометрах или ускорителях, под действием отклонений в магнитных и электрических полях, многократных фокусировок, дефокусировок, охлаждения, банчировок, ребанчировок, и др., приводят к многократным столкновениям частиц в пучках, изменяют их состав и свойства.
Сложность состава моноэнергетических ионных пучков можно продемонстрировать на примере получения анионов водорода перезарядкой [121]. В этом эксперименте пучок катионов водорода с энергией 9 кэВ пропускался через сверхзвуковую струю паров натрия. (В данном случае вероятно образование кластеров натрия и даже возможно образование кластеров водорода по схеме аналогичной получению кластеров в агрегатном генераторе частиц (п.3.6)). Источник положительных ионов, при работе с которыми был получен максимальный ток отрицательных ионов водорода, Н-
, формировал пучок, содержащий после прохождения мишени примерно 48% ионов Н-
с энергией 9 кэВ, образовавшийся из ионов Н+
, 26% ионов Н-
с энергией 4,5 кэВ, возникших в результате распада Н2
+
, и 26% ионов Н-
с энергией 3 кэВ, образовавшихся в результате диссоциации ионов Н3
+
. Таким образом, от 50 до 75% анионов Н-
производятся из молекулярных ионов пучка. Одинаковые частицы Н-
с дискретными энергиями разделяются анализатором, как разные ионы.
7.2 Изменение состава пучка ионов при обдирке
Для получения высоких кратностей заряда ионов в ускорителях широко используют обдирку на газовых мишенях или фольге [46 – 50].
Обдирка на газовых мишенях напоминает метод диссоциации, активированной столкновениями (спектроскопия кинетических энергий фрагментарных ионов, образовавшихся при соударениях ионов с газом) [81]. Сходство между условиями получения МЗИ методом обдирки и фрагментацией сложных частиц подтверждается экспериментом [48], в котором двухзарядные молекулярные ионы гелия 4
Не2
2+
получались путем обдирки ионов 4
Не2
+
на газовой мишени (азот). Однако в результате серьезной интерференции с пиком 4
Не+
от фрагментации по схеме: 4
Не2
+
+ N2
→ 4
Не+
+ 4
Не + N2
, оказалось невозможным отличить масс-спектры МЗИ от фрагментов.
Условия получения МЗИ обдиркой схожи с методом расщепленного пучка [44]. В этом методе, для изучения изменений при столкновении одинаковых ионов, монокинетический ленточный ионный пучок фокусируется, что приводит к пересечению траекторий ионов в области фокуса и возникновению в пучке новых частиц. Для сравнения: в обычном методе обдирки при доставке пучка к газовому обдирателю, он также фокусируется на мишень с малым углом сходимости (в работе [162] – это порядка 12 миллирадиан). Мишень при этом – поставщик электронов и нейтральных частиц.
В ультразвуковых струях газовых мишеней образуются кластеры (п.3.5) и возможно усложнение частиц обдираемого ионного пучка, аналогичное кластерообразованию, происходящему в агрегатном генераторе кластеров (п.3.6).
Исходя из утверждения, что при облучении кластеры ведут себя подобно конденсированным фазам [55], процессы, происходящие при бомбардировке фольги ионами, можно, в некоторой мере, распространить на газовые сверхзвуковые мишени, содержащие кластеры.
Из предыдущего пункта (п.7.1) следует, что пучки, бомбардирующие мишень, не являются моноатомными. От способа производства ионов, бомбардирующих мишени, зависит состав пучка, падающего и прошедшего через мишень. В пучках могут присутствовать, помимо ионов и нейтральных частиц, как жидкие кластеры, так и кристаллические, как горячие, так и холодные [52]. Состав ионного пучка, среднее зарядовое состояние и распределение заряда ионов, покидающих мишень, зависит от энергии и состава бомбардирующих ионов [46]. При энергии порядка 100 кэВ пучок может содержать фракцию отрицательно заряженных ионов [2].
Развивая тему усложнения пучков, прошедших через мишень, рассмотрим факторы, которые в процессе обдирки могут привести к образованию сложных, метастабильных частиц, фрагменты которых в дальнейшем могут быть приняты за МЗИ, а спектральные линии, испускаемые молекулярными фрагментами или кластерами, могут быть приписаны атомарным частицам.
Один из первых методов получения кластеров связан с ионным распылением твердых тел бомбардировкой мишени ионами килоэлектронвольтных энергий. При ионной бомбардировке тонких мишеней помимо обычного распыления, также имеет место распыление материала вперед, что подтверждается присутствием линий элементов мишеней в оптических и рентгеновских спектрах. Одним из процессов, сопровождающих столкновение высокоэнергетических и кластерных ионов с твердой поверхностью, является эмиссия электронов, нейтральных и заряженных частиц (атомов, молекул и кластеров) [51, 52]. В случае применения тонких мишеней (порядка 5 – 300 нм), при их бомбардировке ионами, молекулами и кластерами, эмиссия всех этих частиц наблюдается с обеих сторон фольги. В работе [163] исследовалось взаимодействие кластеров водорода HN
+
(N
= 1 – 13) с углеродной фольгой. Оказалось большим сюрпризом проникновение кластеров H9
через фольгу толщиной 300 нм.
Распыление вещества ионами, кластерами вперед подобно распылению фольги лазерным лучом: появляются разнообразные частицы с очень высокими энергиями [9].
При взаимодействии молекулярных ионов с твердым телом возможен их кулоновский взрыв [46]. Кинетическая энергия, выделяемая в процессе кулоновского взрыва кластера, влияет на энергетическое и угловое распределение осколков, вылетающих в направлении пучка из мишени. В работе [46] рассмотрено пропускание ионов H2
+
, 3
He2
+
, 4
He2
+
, 4
HeH+
, D3
+
, 3
HeH+
(с энергией 0,8 – 3,6 МэВ) через различные твердые мишени. Показано, что после обдирки молекул: H2
, 3
He2
+
, 4
HeH+
, D3
+
и др. получались два-три массовых пика в зависимости от толщины фольги. При изучении обдирки на газовой мишени 14-ти различных моноатомных ионов в масс-спектрах также получили до трех пиков для каждого из элементов [50], что было бы логично объяснить вкладом от фрагментации сложных частиц. Однако авторы объясняют это разными состояниями возбуждения ионов, идущих на обдирку.
Множество экспериментов по получению МЗИ обдиркой, выполнено с углеродной мишенью [3], а согласно экспериментальным и теоретическим исследованиям малые кластеры углерода CN
+
очень активны [62], что повышает вероятность образования смешанных кластеров углерода. References and further reading may be available for this article. To view references and further reading you must purchase
this article.
Столкновения ионов, электронов и нейтральных частиц распыленной мишени с частицами пучка приведет к их совместному агрегированию за мишенью. Например, при лазерном распылении материалов в атмосфере инертных газов, образуются смешанные кластеры углерода, кремния и германия с Ar, Kr и Xe [62]. При этом ионы (C–A r)+
являются очень стабильными [154], с энергией связи порядка 1 эВ. В ИИ с индуктивно связанной плазмой обнаружено образование полиатомных ионов AuX
, AgX
, NiX
, CuX
и AlX
, (где X
: Ar, O, N и H) из материала скиммера, выделяющего ионный пучок [150].
Во время обдирки на фольге пучок ионов (или последовательность банчей), проходя через микроотверстия (реально существующие в фольге до начала бомбардировки ионами или образовавшиеся под обстрелом ионов), фокусируется и передает энергию мишени и/или распыляемому материалу. Возможно действие краевого эффекта на отверстиях в фольге, аналогичное эффекту на щелях ИИ (п.2.4).
В зависимости условий эксперимента, пучок ионов, проходя через микро- или нано отверстия в фольге, может не фокусироваться, а расширяется и охлаждается, как при истечении плазмы через сопло, что также способствует кластерообразованию в пучке.
Для проходящего пучка нейтрализующими агентами могут оказаться фрагменты мишеней или нейтрализованные на мишенях ионы из пучков и электроны, выбитые из мишени. Сечения перезарядки между МЗИ и нейтральными частицами очень велики: перезарядка на 3 – 4 порядка больше соответствующих сечений ионизации электронным ударом [12]. Скорости реакции пропорциональны скоростям сталкивающихся частиц. Для снижения перезарядки плотность числа нейтральных атомов должна быть на два порядка меньше плотности числа электронов. Выполняются ли перечисленные условия нейтрализации на мишенях? Может ли природа обдирки ионов быть объяснена только сверхвысокими энергиями обдираемых частиц?
7.3 Кластерообразование в сторожевом кольце тяжелых ионов
Сторожевое кольцо тяжелых ионов – это чрезвычайно длинная ловушка для захвата части пучка ионов – кольцевой, вакуумированный сосуд, в котором вращается пучок [2].
Образование сложных частиц в ионных пучках, введенных в ускорители, возможно в результате процессов, уже рассмотренных выше (п.7.1 и п.7.2). Охлаждение ионных пучков вносит дополнительные изменения в их состав и свойства. В этой связи заслуживает внимания работа [164], в которой наблюдалось аномальное поведение малого количества частиц в пучках МЗИ, охлажденных электронами. Даже без продолжения охлаждения холодный ионный пучок совершает в сторожевом кольце более 106
оборотов без значительного увеличения температуры. Охлаждение ионных пучков до экстремальной пространственной фазовой плотности приводит к генерации упорядоченной структуры, часто называемой кристаллическим пучком. Существование таких упорядоченных структур демонстрировалось в ловушках заряженных частиц в покое [157]. Впервые на эффект упорядочения в быстром, охлаждаемом электронами пучке протонов в NAP-M кольце указано в работе [165]. Уже в ранних теоретических исследованиях [160] отмечалось, что МЗИ дают лучшие предусловия для достижения упорядоченных структур, и фактор уменьшения моментального расширения пучка возрастает с зарядом иона [164]. В зависимости от линейной плотности пучок может перестроиться в одномерную струну или, для более высокой линейной плотности, даже в двух- или трехмерный кристалл [167]. Однако, для двух- и трехмерных структур неясно, смогут ли они сохраниться, когда подвергаются сильным разрушающим нагрузкам в поворотных магнитах или фокусирующих полях квадрупольных магнитов сторожевого кольца. Возможно, что образование упорядоченных структур связано (в том числе) с нейтрализацией МЗИ охлаждающими электронами.
8. Заключение
В достаточной степени еще не изучены все физические явления, лежащие в основе действия ИИ и генерации кластеров. Неоднозначность в интерпретацию экспериментальных данных вносят: ассоциация и коалесценция частиц, ион-молекулярные реакции, отложенная ионизация и особенности экспериментальных установок. Каждая масс-спектрометрическая или иная экспериментальная установки имеют свою специфику в технике эксперимента. Данная работа позволит специалистам учитывать в исследованиях общие для ряда систем процессы, явления и практические трудности, отмеченные в статье (п.5.6, 5.8).
Основные источники ионов (дуговые, искровые, лазерные, плазменные и т.д.) – это источники кластерной плазмы. Производство МЗИ, как правило, сопровождается образованием кластеров. Это оказывается справедливым и для молекулярных кластеров, например, таких как бензол [84, 168], метанол [84], вода [80, 127], аммиак [80], угарный газ [74] и даже для фуллеренов (у которых есть ассоциаты) [133].
Понимание роли кластеров в источниках ионов необходимо для оптимизации их работы, разработки новых систем ионизации. Вероятно, следует предусматривать снижение кластерообразования в ИИ, т.к. фрагментация кластеров дает вклад в линии масс-спектров и увеличивает фон, что приводит к повышению предела определения.
Даже в случае получения масс-спектров однократно заряженных ионов желательно учитывать присутствие кластеров и их фрагментацию (в высокоточных измерениях): при определении изотопных соотношений или низких концентраций элементов.
8.1 Выводы
Проведенный анализ экспериментального материала показывает, что получение МЗИ и последующее формирование пучков ионов, сопровождается образованием и фрагментацией кластеров, что серьезно осложняет работу с МЗИ и корректную интерпретацию полученных результатов. В определенных условиях для любых элементов могут существовать моноизотопные кластеры таких размеров, что при их фрагментации имеются наложения от дочерних ионов на пики МЗИ в масс-спектрах (см. формулы: 1 – 4, п.4.2).
Экспериментально показано в работе [106], что средняя кинетическая (и максимальная) энергия МЗИ растет практически линейно с зарядом иона в широком диапазоне его изменения. Кулоновский взрыв кластеров одного размера дает выход величин с дискретной энергией [127], и при моноатомном распаде кластеров разных размеров AN
получаются одинаковые частицы A
с разными энергиями (сравните с дискретностью энергий ионов водорода, полученных перезарядкой (п.7.1)). Это согласуется с дискретностью сигналов фрагментов в TOFMS (п.5.6) и увеличением избыточной энергии ионов при возрастании их зарядов (п.5.4).
В данной работе найдена корреляция между шириной пиков фрагментарных и многозарядных ионов (п.5.4). Ширина масс-спектрального пика МЗИ увеличивается с увеличением заряда иона. Ширина пика фрагментарного иона также увеличивается с увеличением кратности заряда того иона, на сигнал которого возможно наложение данного фрагмента в масс-спектре. Это связано с тем, что согласно формуле (5) трансляционная энергия дочернего иона А
X
+
, появившегося в результате реакции (1), (при прочих равных условиях) возрастает с увеличением числа частиц N
массы А
в родительском кластере А
N
+
, который он покидает. Исходя из уравнений (2) и (3), при испарении (в свободном от полей пространстве) с кластера А
N
+
одной частицы А
X
+
(т.е. при Х
= 1), наложение в масс-спектре от этого фрагментарного иона придется на ион Aq
+
с кратностью заряда q
= N
.
Из представленных в разделе 5 способов различения фрагментарных и многозарядных ионов трудно выбрать единственный, позволяющий однозначно определиться с типом частиц, приходящих на приемник ионов.
Продвижение к масс-спектрометрической проверке модели строения атома можно было бы начать с газовых МЗИ, которые кажутся наименее отягощенными присутствием кластеров. "Пилотным" экспериментом по проверке фрагментации кластеров может стать изучение (методом изотопно-разрешаемой масс-спектрометрии (п.5.2)) присутствия в газовых ИИ частиц, фрагменты которых могут быть ошибочного приняты за МЗИ. Для этого потребуется "простой" масс-спектрометр с хорошим разрешением и чувствительностью, а также изотопы легкого газа (He, N2
, O2
, Ne или др.). В случае присутствия фрагментарных пиков от полиизотопных частиц анализируемого газа в местах масс-спектра, рассчитанных для них согласно формуле (4) и не занятых многозарядными ионами, следует также ожидать наложения фрагментов от моноизотопных кластеров на сигналы МЗИ, образованные из элемента этого газа. Дополнительно можно варьировать методы анализа (раздел 5), энергию ионизации, условия ввода в ИИ (газ или кластеры) и/или состав газа. Для выявления присутствия фрагментов в пучках "ободранных" ионов следует пропустить пучки голых ядер через мишени.
Состав ионных пучков определяется первоначальным присутствием в них кластеров, а их колимирование, транспортировка, многочисленные фокусировки, отклонения, ускорения, банчировки, охлаждение и взаимодействие с мишенью приводят к дальнейшему усложнению пучков. Получается, что и для спектроскопических измерений трудно выделить чистый моноатомный пучок или пучок МЗИ с определенной кратностью заряда, без присутствия в них сложных частиц.
Производство МЗИ методом обдирки (п.7.2) оставляет немало вопросов к нынешнему объяснению этого метода ионизации. Может ли природа обдирки быть объяснена только сверхвысокими энергиями обдираемых частиц или здесь опять проявляются кластерообразование и фрагментация?
Для доказательства ряда положений работы о кластерообразовании в ИИ, ловушках или ионных пучках могут потребоваться: анализ дополнительного фактического материала или постановка экспериментов. Однако уже из представленных фактов становится очевидным: нельзя пренебрегать присутствием сложных частиц при интерпретации результатов масс-спектрометрических экспериментов с МЗИ, получении атомных спектров и важнейших оптических характеристик атомов, на которых базируются фундаментальные физические теории.
Работа имеет практическое значение для диагностики плазмы, экспериментов с пучками ионов, кластеров и фуллеренов.
8.2 Благодарности
Методология "менделеевского пасьянса", с помощью которой выполнено данное исследование, предполагает использование надежного фактического материала для обоснования идей, цитирование значительных частей текста из работ, приведенных в списке литературы. Поэтому автор считает своей приятной обязанностью выразить благодарность всем ученым и специалистам, чьи процитированные работы стали составной частью данного исследования. Особую благодарность автор выражает Б. М. Смирнову, на трудах которого базируется значительная часть статьи, относящаяся к кластерам.
Список литературы
J.D.Gillaspy, "Highly charged ions", J. Phys. B 34 R93 (2001), (online at: http://stacks.iop.org/JPhysB/34/R93).
E. Träbert, Precise atomic lifetime measurements with stored ion beams and ion traps. Can. J. Phys. 80: 1481-1501 (2002), (online at: http://cjp.nrc.ca).
Beam-Foil Spectroscopy. Proceedings the Second International Conference on Beam-Foil Spectroscopy. Lysekil, Sweden, 7-12 June 1970. Nuclear Instruments and Methods. A Journal on Accelerators, Instrumentations and Techniques in Nuclear Physics. V.90. December 1970. Amsterdam.
Е.А.Бондаренко, Э.Т.Верховцева, Ю.С.Доронин, А.М.Ратнер, "Влияние размера кластера на энергетическую релаксацию, проявляющуюся через спектры люминесценции кластеров аргона, криптона и ксенона", Изв. АН, Сер. физ., 62,
1103-1106 (1998).
Г.Н.Герасимов, "Оптические спектры бинарных смесей инертных газов", УФН, 174, 155-175 (2004).
Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 1998.
R.E.Marrs, S.R.Elliott, D.A.Knapp, "Production and trapping hydrogenlike and bare uranium ions in an electron beam ion trap", Phys. Rev. Lett., 72, 4082-4085 (1994).
Масс-спектрометрический метод определения следов, (ред. М.С.Чупахин), Мир, Москва, 1975.
Ю.А.Быковский, В.Н.Неволин, Лазерная масс-спектроскопия, Энергоатомиздат, Москва, 1985.
А.А.Пупышев, В.Т. Суриков, Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой. Образование ионов. Екатеринбург: УРО РАН, 2006. 276 с.
А.А.Сысоев, М.С.Чупахин, Введение в масс-спектрометрию, Атомиздат, Москва, 1977.
И.Жонжен, К.Линейс, "Ионные источники на электронном циклотронном резонансе", в кн. Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 223-247 (1998).
G.D.Shirkov, "A new approach to the interpretation of gas mixing (ion mixing) effect in the ECR ion source", Phys. Scripta, T73, 384-386 (1997).
R.Geller, B.Jacquot, "The multiply charged ion source Minimafios", Phys. Scripta, T3, 19-26 (1983).
H.Koivisto, J.Ärje, R.Seppälä, M.Nurmia, "Production of titanium ion beams in an ECR ion source", Nucl. Instr. Meth. B, 187, 111-116 (2002).
H.Koivisto, J.Ärje, H.Nurmia, "Metal ion beams from an ECR ion source using volatile compounds", Nucl. Instr. Meth. B, 94, 291-296 (1994).
Koivisto H et al., In Proc. of the 13th
Int. Workshop on Electron Cyclotr. Res. Ion Source (February 26-28, TAMU, College Station,1997) p. 167.
T.Nakagawa, J.Ärje, Y.Miyazawa, M.Hemmi, T.Chiba, N.Inabe, M.Kase, T.Kageyama, O.Kamigaito, M.Kidera, A.Goto, Y.Yano, "Production of intense beams of highly charged metallic ions from RIKEN 18 GHz electron cyclotron resonance ion source", Rev. Scien. Instrum., 69, 637-639 (1998).
Б.Гавин, "Ионные PIG-источники", в кн. Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 180-201 (1998).
E.D.Donets, "The electron beam method of production of highly charged ions and its applications", Phys. Scripta, T3, 11-18 (1983).
J.W.McDonald, R.W.Bauer, D.H.G.Schneider, "Extraction of highly charged ions (up to 90+
) from a high-energy electron-beam ion trap", Rev. Scien. Instrum., 73, 30-35 (2002).
http://physics.nist.gov/MajResFac/EBIT/main.html.
T.Werner, G.Z.Schornack, F.Gorossmann, V.P.Ovsyannikov, F.Ullmann, 'The Dresden EBIT: An ion source for materials research and technological application of low-energy highly charged ions", Nucl. Instrum. Meth. B, 178, 260-264 (2001).
J.Faure, B.Feinberg, A.Courtois, R.Gobin, "External ion injection into CRYEBIS", Nucl. Instrum. Meth., 219, 449-455 (1984).
I.G.Brown, J.E.Galvin, R.A.MacGill, R.T.Wright, "Miniature high current metal ion source", Appl. Phys. Lett., 49, 1019-1021 (1986).
S.B. Utter, P. Beiersdorfer, and E. Träbert,
Electron-beam ion-trap spectra of tungsten in the EUV. Can. J. Phys. 80
: 1503–1515 (2002), (online at: http://cjp.nrc.ca).
S.B. Utter P. Beiersdorfer, J. R. Crespo Lo´pez-Urrutia and, E. Träbert, EBIT Implementation of a normal incidence spectrometer on an electron beam ion trap, Rev. scien. Instr., V.70, № 1, 288 – 291 1999.
В.П.Крайнов, М.Б.Смирнов, "Эволюция больших кластеров под действием ультракороткого сверхмощного лазерного импульса", УФН 170, 969-990 (2000).
Н.Б.Делоне, В.П.Крайнов, Нелинейная ионизация атомов лазерным излучением, ФИЗМАТЛИТ, Москва, 2001.
Я.Браун, "Ионный источник с вакуумной дугой в парах металла", в кн. Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 358-381 (1998).
I.G.Brown, B.Feinberg, J.E.Galvin, "Multiply stripped ion generation in the metal vapor vacuum arc" J. Appl. Phys., 63, 4889-4924 (1988).
D.Shcneider, D.DeWitt, M.W.Clark, R.Schuch, C.L.Cocke, R.Schmieder, K.J.Reed, M.H.Chen, R.E.Marrs, M.Levine, R.Fortner, "Ion-collision experiments with slow, very highly charged ions extracted from an electron-beam ion trap", Phys. Rev. A, 42, 3889-3895 (1990).
С.Хамфриз, мл., К.Буркхарт, Л.Лен, "Ионные источники импульсных высокоинтенсивных пучков", в кн. Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 429-455 (1998).
S.Takagi S.Ohtani, K.Kadota, J.Fujita, "Collision experiment on highly ionized ions using a vacuum spark source", Nucl. Instrum. Meth., 213, 539-544 (1983).
М.Ф.Артамонов, В.И.Красов, В.Л.Паперный, "Регистрация ускоренных многозарядных ионов из катодной струи вакуумного разряда", ЖЭТФ, 120, 1404-1410 (2001).
170 A.Bogaerts, R.Gijbels, "New developments and applications in GDMS", Fresenius J. Anal Chem., 364, 367-375 (1999).
В. Хофер, "Распределения распыленных частиц по углам, энергиям и массам", в кн. Распыление под действием бомбардировки частицами. Выпуск III., (ред. Р Бериш, К Виттмак), Мир, Москва, 87 – 136 (1998).
R.L.Watson, R.J.Maurer, "Time-of-flight analysis of dissociation products from collisions of 40 MeV Ar13+
with molecular oxygen", Nucl. Instrum. Meth. A, 262, 99-105 (1987).
C.L.Cocke, "Production of highly charged low-velocity recoil ions by heavy-ion bombardment of rare-gas targets", Phys. Rev. A, 20, 749-758 (1979).
S.Kelbch, J.Ullrih, R.Mann, P.Richard, H.Schmidt-Bocking, "Cross sections for the production of highly charged argon and xenon recoil ions in collisions with high-velocity uranium projectiles", J. Phys. B, 18, 323-336 (1985).
T.Tonuma, H.Shibata, S.H.Be, H.Kumagai, M.Kase, T.Kambara, I. Kohno, "Production of highly charged slow Ar ions recoiled in 1.05-MeV/amu Neq+
(q=2,7–10) and Arq+
(q=4,6
,10–14) -ion bombardment", Phys. Rev. A, 33, 3047-3053 (1986).
R.J.Maurer, C.Can, R.L.Watson, Ionization and fragmentation of some simple molecules in collisions with 40 MeV Ar13+
ions", Nucl. Instrum. Meth. B, 27, 512-518 (1987).
H.Tawara, T.Tonuma, T.Matsuo, M.Kase, H.Kumagai, I.Kohno, "Multiply atomic ions produced through Coulomb explosions in heavy ion impact", Nucl. Instrum. Meth. A, 262, 95-98 (1987).
К.Долдер, "Измерение сечений неупругих электрон-ионных и ион-ионных столкновений", в кн. Физика ион-ионных и электрон-ионных столкновений (ред. Ф.Брауэр, Дж.Мак-Гоуэн), Мир, Москва, 267 - 288 (1986).
H.Tawara, V.P.Shevelko, "Multiple ionization of negative and positive ions, neutral atoms, and molecules, under electron impact: data and databases", Int. J. Mass Spectrom., 192, 75-85 (1999).
В.П.Ковалев, Эффективный заряд иона, Энергоатомиздат, Москва, 1991.
N.Claytor, B.Feinberg, H.Gould, C.E.Bemis, Jr., J.G.del Campo, C.A.Ludemann, C.R.Vane, "Electron impact ionization of U88+
- U91+
", Phys. Rev. Lett., 61, 2081-2084 (1988).
M.Guilhaus, A.G.Brenton, J.H.Beynon, M.Rabrenović, P von R.Schleyer, "First observation of He2
2+
: charge stripping of He2
+
using a double-focusing mass spectrometer", J. Phys. B, 17, L605-L610 (1984).
А.В.Бакалдин, С.А.Воронов, С.В.Колдашов, В.П.Шевелько, "Обдирка быстрых ионов кислорода при столкновениях с атомами легких элементов", ЖТФ, 70, 17-23 (2000).
C.J.Porter, C.J.Proctor, T.Ast, J.H.Beynon, "Charge-stripping spectra of monatomic ions", Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys., 41, 265-276 (1982).
Г.Н. Макаров, Экстремальные процессы в кластерах при столкновении с твердой поверхностью, УФН, т. 176, № 2, 2006, 121 – 172.
Г.Н. Макаров, Кластерная температура. Методы ее измерения и стабилизации, УФН, Т.178, № 4, 2008, 337-376.
Б.М.Смирнов, Комплексные ионы, Наука, Москва, 1983.
S.Sugano, Microclaster Physics, Springer-Verlag, Berlin, 1991.
Б.М.Смирнов, "Генерация кластерных пучков", УФН, 173, 609-648 (2003).
Б.М.Смирнов, "Процессы в кластерной плазме и кластерных пучках", Письма в ЖЭТФ, 68, 741-746 (1998).
Б.М.Смирнов, "Свойства кластерной плазмы", ТВТ, 34, 512-518 (1996).
Ю.И.Петров, Кластеры и малые частицы, Наука, Москва, 1986.
Г.А.Месяц Эктоны в вакуумном разряде: пробой, искра дуга, Наука, Москва, 2000.
P.Milani, W.A.deHeer, "Improved pulsed laser vaporization source for production of intense beams of neutral and ionized clusters", Rev. Scien. Instrum., 61, 1835-1838 (1990).
Б.Н.Козлов, Б.А.Мамырин, "Масс-спектрометрический анализ кластеров, образующихся при лазерном распылении образца", ЖТФ, 69, 81-84 (1999).
C.Lüder, E.Georgiou, M.Velegrakis, "Stadies on the production and stability of large CN
+
and Mx
+
RN
(M = C, Si, Ge and R = Ar, Kr) clusters, Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 153, 129-138 (1996).
N.R.Walker, G.A.Grieves, J.B.Jaeger, R.S.Walters, M.A.Duncan, "Generation of "unstable" doubly charged metal ion complexes in a laser vaporization cluster source", Int. J. Mass Spectrom., 228, 285-295 (2003).
Б.М.Смирнов, "Кластерная плазма", УФН, 170, 495-534 (2000).
В.И.Матвеев, "Распределения кластеров по зарядам и размерам при ионном распылении металла", ЖТФ, 72, 115-119 (2002).
И.В.Веревкин, С.В.Верхотуров, А.М.Гольденберг, Н.Х.Джемилев, "Исследование спектров энергий распада рыспыленных кластерных ионов", Изв. АН Сер. физ., 58 57-61 (1994).
И.А.Войцеховский, М.В.Медведева, В.Х.Ферлегер, "Ионизация и фрагментация кластеров, распыленных с поверхности металла ускоренными ионами", ЖТФ, 67, 1-5 (1997).
С.Ф.Белых, В.И.Матвеев, У.Х.Расулев, А.В.Самарцев, И.В.Веревкин, "Эффект аномально высокой неаддитивности распыления металла в виде многоатомных кластерных ионов при бомбардировке молекулярными частицами", Изв. АН, Сер. физ., 62, 813-820 (1998).
R.N.Varney, Phys. Rev., "Equilibrium Constant and Rates for the Reversible Reaction N4
+
→ N2
+
+ N2
", 174, 165-172 (1968).
Э.И.Асиновский, А.В.Кириллин, А.А.Раговец, Криогенные разряды, Энергоатомиздат, Москва, 1988.
R.A.Gerber, M.A.Gusinow, "Helium ions at 76 o
K: their transport and formation properties", Phys. Rev. A, 4, 2027-2033 (1971).
M.Foltin, M.Lezius, P.Scheier, T.D.Märk, "On the unimolecular fragmentation of C60
+
fullerene ions: The comparison of measured and calculated breakdown patterns", J. Chem. Phys., 98, 9624-9634 (1993).
T.Leisner, O.Echt
, O.Kandler, X.-J.Yan
, E.Recknagel, "Quantum effects in the decomposition of nitrogen cluster ions", Chem. Phys. Lett., 148, 386-392 (1988).
K-M.Weitzel, J.Mähnert, "The binding energies of small Ar, CO and N2
cluster ions", Int. J. Mass Spectrom., 214, 175-212 (2002).
M.Aydin, J.R.Lombardi, "Multiphoton fragmentation spectra of zirconium and niobium cluster cations", Int. J. Mass Spectrom., 235, 91-96 (2004).
K.Hiraoka, "A determination of the stabilities of O2
+
(O2
)n
and O2
-
(O2
)n
with n=1–8 from measurements of the gas-phase ion equilibria", J. Chem. Phys., 89, 3190-3194 (1988).
S.H.Linn, Y.Ono, C.Y.Ng, "A study of the ion–molecule half reactions O2
+
(4
u
, v
)···(O2
)m
→ (O2m+1
)+
+O, m
= 1, 2, or 3, using the molecular beam photoionization method", J. Chem. Phys, 74, 3348-3352 (1981).
R.Parajuli, S.Matt, A.Stamatovic, T.D.Märk, P.Scheier, "Unimolecular dissociation of non-stoichiometric oxygen cluster ions On
+
* (n = 5, 7, 9, 11): a switch from O3
to O2
loss above cluster size n = 5", Int. J. Mass Spectrom., 220, 221-230 (2002).
S.Schütte, U.Buck, "Strong fragmentation of large gas clusters by high energy electron impact", Int. J. Mass Spectrom., 220, 183-192 (2002).
Bobbert C, S.Schütte, C.Steinbach, U.Buck, "Fragmentation and reliable size distributions of large ammonia and water clusters", Eur. Phys. J. D, 19, 183-192 (2002).
А.А.Полякова, Молекулярный масс-спектральный анализ органических соединений, Химия, Москва, 1983.
Н.Н.Туницкий, Р.М.Смирнова, М.В.Тихомиров, "О "дробных" пиках в масс-спектре водорода", ДАН СССР, 101, 1083-1084 (1955).
Б.А.Калинин, В.Е.Атанов, О.Е.Александров, "Метастабильные ионы в масс-спектре гексафторида урана", ЖТФ, 72, 135-137 (2002).
J.Geiger, E.Rühl, "Fission mechanism of doubly charged organic molecular clusters", Int. J. Mass Spectrom., 220, 99-110 (2002).
J.Jin, H.Khemliche, M.H.Prior, Z.Xie, "New highly charged fullerene ions: Production and fragmentation by slow ion impact", Phys. Rev. A, 53, 615-618 (1996).
J.R. Stairs, T.E. Dermota, E.S. Wisnewski, A.W. Castleman Jr., “Calculation to determine the mass of daughter ions in metastable decay, Int. J. Mass Spectrom., 213 81 – 89 (2002).
K.Sattler, J.Mühlbach, O.Echt, P.Pfau, E.Recknagel, "Evidence for CoulombExplosion of Doubly Charged Microclusters", Phys. Rev. Lett., 47, 160-163 (1981).
P.Scheier, G.Walder, A.Stamatovic, T.D.Märk, "Critical appearance size of doubly charged Xe clusters revisited", J. Chem. Phys., 90, 4091-4094 (1989).
P.Scheier, T.D.Märk, "Observation of the septuply charged ion C60
7+
and its metastable decay into two charged fragments via superasymmetric fission", Phys. Rev. Lett., 73, 54-57 (1994).
Р.Тауберт, "Кинетические энергии осколочных ионов", в кн. Успехи масс-спектрометрии, том 1, (ред. Д.Д.Уолдрон), ИЛ, Москва 482-495 (1963).
C.E.Klots, J.Polach, "Unimolecular Reactions in a Spherically Symmetric Potential. 3. Lifetimes of Collision Complexes", J. Phys. Chem., 99, 15396-15399 (1995).
T.Ditmire, E.Springate, J.W.G.Tisch, Y.L.Shao, M.B.Mason, N.Hay, J.P.Marangos, M.H. R.Hutchinson, "Explosion of atomic clusters heated by high-intensity femtosecond laser pulses", Phys. Rev. A, 57, 369-382 (1998).
Clasters of atoms and molecules, (Ed. H.Haberland), Springer, Berlin, 1994. R.G.Cooks, J.H.Beynon, R.M.Caprioli, G.R.Lester, Metastable ions, Elsevier, Amsterdam, 1973.
S.Matt, M.Sonderegger, R.David, O.Echt, P.Scheier, J.Laskin, C.Lifshitz, T.D.Märk, "Kinetic energy release for metastable fullerene ions", Int. J. Mass Spectrom., 185/186/187, 813-823 (1999).
P.Scheier, B.Dünser, T.D.Märk, "Charge separation processes of multiply-charged fullerene ions C60-2m
z+
, with 0 ≤ m ≤ 7 and 3 ≤ z ≤ 7", J. Phys. Chem., 99, 15428-15437 (1995).
C.Lifshitz, M.Iraqi, T.PeresJ. E.Fischer, "The reactivity of C+
60
and C2+
60
", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 107, 565-569 (1991).
R.G.Cooks, J.H.Beynon, R.M.Caprioli, G.R.Lester, Metastable ions, Elsevier, Amsterdam, 1973.
S.Matt, J.Echt, R.Wörgötter, P.Scheier, C.E.Klots, T.D.Märk, "Relative dissociation energies of singly and doubly charged fullerene ions, Cn
z+
, for n = 52 to 70", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 167/168, 753-759 (1997).
T.Drewello, K.D.Asmus, J.Stach, R.Herzschuh, M.Kao, C.S.Foote, "Carbon (C60
) as model compound for large carbon cluster ion evaporations", J. Phys. Chem., 95, 10554-10557 (1991).
P.E.Barran, S.Firth, A.J.Stace, H.W.Kroto, K.Hansen, E.E.B.Campbell, "Stability of carbon clusters CN
for 46 ≤ N ≤ 102", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 167/168, 127-133, (1997).
E.Rutherford, H.Geiger, "An electrical method of counting the number α-particles from radio-active substances. Charge and nature of α-particles", Proc. Poy. Soc. A, 81, 141-173 (1908).
F.Aumayr, M.Vana, HP.Winter, H.Drexel, V.Grill, G.Senn, S.Matt, P.Scheier, T.D.Märk, "Distinction between multicharged fullerene ions and their fragment ions with equal charge-to-mass", Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys., 163, 9L-14L (1997).
F.Biasioli, T.Fiegele, C.Mair, G.Senn, S.Matt, R.David, M.Sonderegger, A.Stamatovic, P.Scheier, T.D.Märk, "Spontaneous and induced dissotiation of singly and multiply chaged fullerene ions", Int. J. Mass Spectrom., 192, 267-280 (1999).
E.Salzborn, W.Groh, A.Müller, A.S.Schlachter, "Transfer ionization in collisions between multiply charged ions and atoms at keV energies", Phys. Scripta, T3, 148-152 (1983).
Е.Д.Донец, В.И.Ильющенко, В.А.Альперт, "Получение ионов высокой зарядности в сверхвысоковакуумном электроннолучевом источнике", Препринт Р7–4469 , ОИЯИ, Дубна, 1969.
М.Ф.Артамонов, В.И.Красов, В.Л.Паперный, "Регистрация ускоренных многозарядных ионов из катодной струи вакуумного разряда", ЖЭТФ, 120, 1404-1410 (2001).
A.vanDeursen, J.Reuss, "Measurements of intensity and velocity distribution of clusters from a H2
supersonic nozzle beam", Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys., 11, 483-489 (1973).
А.А.Дорожкин, А.П.Коварский, А.В.Ли-Фату, "Отрицательные водородсодержащие ионы в масс-спектрах вторично-ионной эмиссии ниобия и тантала", Изв. АН, Cер. физ., 156, 106-109 (1992).
T.Schlathölter, M.W.Newman, T.R.Niedermayer, G.A.Machicoane, J.W.McDonald, T.Shenkel, R.Hoekstra, A.V.Hamza, "Hydrogenated carbon clusters produced by highly charged ion impact on solid C84
", Eur. Phys. J. D, 12,
323-327 (2000).
R.M.Papaléo, P.Demirev, J.Eriksson, P.Håkansson, B.U.R. Sundqvist, "Low-mass secondary-ion ejection from molecular solids by MeV heavy ions: Radial velocity distributions", Phys. Rev. B, 54, 3173-3183 (1994).
Н.Ф.Гольдшлегер, А.П.Моравский, "Гидриды фуллеренов: получение, свойства, структура", Успехи химии, 66, 353-375 (1997).
H. P.Winter, H.Eder, F.Aumayr, "Kinetic electron emission in the near-threshold region studied for different projectile charges", Int. J. Mass Spectrom., 192, 407-413 (1999).
R.K.Boyd, C.J.Porter, J.H.Beynon, "Linked-scan lows to detect fragmentations in the second field-free region of a double-focussing mass spectrometer", Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys., 44, 199-214 (1982).
S.Howells, A.G.Brenton, J.H.Beynon, R.P.Morgan, "A detailed study of the effect of instrumental parameters on the shape of a MIKE peak", Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys., 32, 35-51 (1979).
J.L.Holmes, A.D.Osborne, G.M.Weese, "Metastable ion studies II. Computer assisted interpretation of the shapes of metastable peaks", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 19, 207-218 (1976).
B.A.Rumpf, P.J.Derrick, "Determination of translational energy release distributions through analysis of metastable peaks", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 82, 239-257 (1988).
P.Scheier, G.Senn, S.Matt, T.D.Märk, "First direct observation and identification of the smaller fragment ion in a metastable asymmetric charge separation reaction", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 172 L1-L6 (1998).
Е.Д.Донец, "Ионные источники с электронным пучком", в кн. Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 267-304 (1998).
G.Clausnitzer, H.Klinger, A.Müller, E.Salzborn, "An electron beam ion source for the production of multiply charged heavy ions", Nucl. Instrum. Meth., 128, 1-7 (1975).
K.Gluch, P.Scheier, W.Schustereder, T.Tepnual, L.Feketeova, C.Mair, S.Matt-Leubner, A.Stamatovic, T.D.Märk, "Cross sections and ion kinetic energies for electron impact ionization of CH4
", Int. J. Mass Spectrom., 228, 307-320 (2003).
М.Месси, Отрицательные ионы, Мир, Москва,1979.
B.A. Mamyrin, Time-of-flight mass spectrometry (concepts, achievements, and prospects), Int. J. Mass Spectrom., 206 (2001), 251 – 266.
D.Mathur, V.R. Bhardwaj, C.P.Safvan, F.A.Rajgara, "D2
2+
dication as a probe of spatial alignment of D2
molecules in intense laser light", Int. J. Mass Spectrom., 192, 367-377 (1999).
S.Badiei, L.Holmlid, "Rydberg Matter of K and N2
: angular dependence of time-of-flight for neutral and ionized clusters formed in Coulomb explosions", Int. J. Mass Spectrom., 220,
127-136 (2002).
H.Shiromaru, K.Kobayashi, M.Mizutani, M.Yoshino, T.Mizogawa, Y.Achiba, N.Kobayashi, "An apparatus for position sensitive TOF measurements of fragment ions produced by Coulomb explosion", Phys. Scripta, T73, 407-409 (1997).
V.A.Batalin, J.N.Volkov, T.V.Kulevoy, S.V.Petrenko, "Vacuum arc ion source for the ITEP RFQ accelerator", Rev. Scien. Instrum., 65, 3104-3108 (1994).
E.S.Wisnievski, J.R.Stairs, A.W.Castleman, Jr., "A new time-of-flight gaiting method for analyzing kinetic energy release in Coulomb exploded clusters: applications to water clusters", Int. J. Mass Spectrom., 212, 273-286 (2001).
C.R.Porciano, F.E.Ávalos, A.Rentería, E.F.da Silveira, "Analysis of metastable decay by time-of-flight coincidence and kinetics energy measurements", Int. J. Mass Spectrom., 209, 197-208 (2001).
A.Brunelle, S.Della-Negra, J.Depauw, H.Joret, Y.LeBeyec, "Time-of-flight mass spectrometry with a compact two-stage electrostatic mirror: Metastable-ion studies with high mass resolution and ion emission from thick insulators", Rapid Commun. Mass Spectrom., 5, 40-43 (1991).
X.Tang, R.Beavis, W.Ens, F.Lafortune, B.Schueler, K.G.Standing, "A secondary ion time-of-flight mass spectrometer with an ion mirror", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 85, 43-67 (1988).
H.J.Neusser, "Multi-photon mass spectrometry and unimolecular ion decay", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 79, 141-181 (1987).
B.Spengler, "Post-source decay analysis in matrix-assisted laser desorption/ionization mass spectrometry of biomolecules", J. Mass Spectrom., 32, 1019-1036 (1997).
M.P.Barrow, T.Drewello, "Significant interferences in the post source decay spectra of ion-gated fullerene and coalesced carbon cluster ions" Int. J. Mass Spectrom., 203, 111-125 (2000).
R.D.Beck, P.Weis, G.Bräuchle, M.M.Kappes, "Mechanistic aspects of fullerene coalescence upon ultraviolet laser desorption from thin films", J. Chem. Phys., 100, 262-270 (1994).
K.Hansen, O.Echt, "Thermoionic Emission and Fragmentation of C60
", Phys. Rev. Lett., 78, 2337-2340 (1997).
S.F.Cartier, B.D.May, A.W.Castleman,Jr, "The delayed ionization and atomic ion emission of binary metal metallocarbohedrenes Tix
My
C12
(M=Zr, Nb; 0y4; x+y=8)", J. Chem. Phys., 104, 3423-3432 (1996).
H.U.Poll, V.Grill, S.Matt, N.Abramzon, K.Becker, P.Scheier, TD.Märk, " Kinetic energies of ions produced dissociative electron impact ionization of propane", Int. J. Mass Spectrom., 177, 143-154 (1998).
T.D.Märk, G.H.Dunn, Electron Impact Ionization, Springer–Verlag, Vienna, 1985.
П.Е.Беленсов, "Комментарии к статье "Коллективное ускорение ионов в системах с виртуальным катодом"", УФН, 174,
221-223 (2004).
А.Е.Дубинов, И.Ю.Корнилова, В.Д.Селемир, "Коллективное ускорение ионов в системах с виртуальным катодом",
УФН, 172, 1225-1246 (2002).
Л.Суонсон, А.Белл, "Жидкометаллические ионные источники", в кн. Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 339-357 (1998).
Г.Г.Сихарулидзе, "Механизм ионизации в жидкометаллическом ионном источнике. Источник для тугоплавких металлов", ЖТФ, 67, 82-87 (1997).
D.Zhang, R.G.Cooks, "Doubly charged cluster ion [(NaCl)m
(Na)2
]2+
: magic numbers, dissociation, and structure", Int. J. Mass Spectrom., 195/196, 667-684 (2000).
M.Karas, D.Bachmann, U.Bahr, F.Hillenkamp, "Matrix-assisted ultraviolet laser desorption of non-volatile compounds", Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc., 78, 53-68 (1987).
Г.И.Беков, А.А.Бойцов, М.А.Большов, Е.Л.Гринзайд, А.И.Дробышев, Х.И. Зильберштейн, Д.А.Кацков, А.А.Петров, С.В.Подмошенская, Е.Д.Прудников, Б.Я.Юфа, Спектральный анализ чистых веществ, Химия, Санкт-Петербург, 1994.
Inductively Coupled Plasmas in Analytical Atomic Spectrometry, (Eds. A.Montaser, D.W.Golightly), VCH Publishers, New York 1992.
J.A.C.Broekaert, Analytical Atomic Spectrometry with Flames and Plasmas, Wiley-VCH Verlag GmbH & Co, Weinheim, (FRG), 2002.
Р.Хьюз, Р.Андерсон, "Лазерные источники ионов", в кн. Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 323-338 (1998).
Б.Г.Атабаев, Ш.С.Раджабов, Н.Г.Саидханова, "Эмиссия многозарядных ионов с кристаллов KCl, KBr, LiF при электронном облучении", Изв. АН, Сер. физ., 62, 1935-1938 (1998).
N.F.Zahran, A.I.Helal, M.A.Amr, A.Abdel-Hafiez, H.T.Mohsen, "Formation of polyatomic ions from the skimmer cone in the inductively coupled plasma mass spectrometry", Int. J. Mass Spectrom., 226, 271-278 (2003).
В.П.Вадеев и др., "Применение электронно-лучевого источника "КРИОН-1" для ускорения ядер C, N, O и Ne на синхрофазатроне", Препринт Р7–10823, ОИЯИ, Дубна, 1977.
S. Ohtani, Phis. Scripta., T3 110-113 (1983).
Б.М.Смирнов, "Процессы в плазме и газах с участием кластеров", УФН, 167, 1169-1200 (1997).
I.H.Hiller, M.F.Guest, A.Ding, J.Karlau, J.Weise, "The potential energy curves of ArC+
", J. Chem. Phys., 70, 864-869 (1979).
Л.И.Курлапов, "Кластерная модель газа", ЖТФ, 73, 51-55 (2003).
Л.И. Курлапов, "Мезоскопия кластерных газов". Стр. 136 – 139, , ЖТФ, 2005, т.75, вып.7.
M.Drewsen, I.Jensen, J.Lindballe, N.Nissen, R.Martinussen, A.Mortensen, P.Staanum, D.Voigt, "Ion Coulomb crystals: a tool for studying ion processes", Int. J. Mass Spectrom., 229, 83-91 (2003).
З.З.Латыпов, С.Е.Куприянов, Н.Н.Туницкий, "Ионизационные столкновения электронов с ионами и атомами", ЖЭТФ, 46, 833-839 (1964).
Н.А.Капцов, Электрические явления в газах и вакууме, Гостехтеорлит, Москва, 1950.
А.Холмс, "Транспортировка пучка", в кн. Физика и технология источников ионов (ред. Я.Браун), Мир, Москва, 68-117 (1998).
J.M.McCrea, "Intensity distribution in charge-exchange continua formed in a spectrometer", Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys., 5, 381-386 (1970).
R.Keller, "Multicharged ion production with MUCIS", GSI Scientific rep., Darmstadt, 385-387 (1987).
Billebaud, D. Dauvergne, M. Fallavier, R. Kirsch, J. -C. Poizat, J. Remillieux, H. Rothard, J. -P. Thomas. Secondary electron emission from thin carbon foils under hydrogen cluster impact. Nucl. Instrum. Meth. B 112
(1996) Pages 79 - 82.
R.W.Hasse, M.Steck, "Ordered ion beams", Proceedings of EPAC 2000, Vienna, (Austria), p. 274-276.
E.N.Dementev, N.S.Dikansky, A.S.Medvedko, V.V.Parhomchuk, D.V.Pestrrikov, Sov. Phys. Tech. Phys., 25, 1001-1009 (1980).
J.P.Shiffer, P.Kienle, Z. Phys. A, 321, 181-186 (1985).
In Proc. Workshop on Crystalline Ion Beams (Eds. R.W.Hasse, I.Hofmann, D.Liesen), GSI-Report GSI89-10, Darmstadt, (1989).
M.Y.Hahn, K.E.Schriver, R.L.Whetten, "Multiple ionization of benzene clusters by ultraviolet radiation", J. Chem. Phys., 88, 4242-4251 (1988).