«МАТИ»-РГТУ
им. К. Э. Циолковского
тема: «Определение параметров p-n перехода»
Кафедра: "Xxxxxxxxxxxxxxxxxxxx
xxxxxxxxxxxxxxxx"
Курсовая работа
студент ХxxxxxxxX. X.группа XX-X-XX |
дата сдачи
|
оценка
|
г. Москва 2001 год
Оглавление:
1. Исходные данные |
3
|
2. Анализ исходных данных |
3
|
3. Расчет физических параметров p-
|
3
|
а) эффективные плотности состояний для зоны проводимости и валентной зоны | 3 |
б) собственная концентрация | 3 |
в) положение уровня Ферми | 3 |
г) концентрации основных и неосновных носителей заряда | 4 |
д) удельные электропроводности p- и n- областей | 4 |
е) коэффициенты диффузий электронов и дырок | 4 |
ж) диффузионные длины электронов и дырок | 4 |
4. Расчет параметров p-
|
4
|
a) величина равновесного потенциального барьера | 4 |
б) контактная разность потенциалов | 4 |
в) ширина ОПЗ | 5 |
г) барьерная ёмкость при нулевом смещении | 5 |
д) тепловой обратный ток перехода | 5 |
е) график ВФХ | 5 |
ж) график ВАХ | 6, 7 |
5. Вывод |
7
|
6. Литература |
8
|
1. Исходные данные
|
|||||||
1) материал полупроводника – GaAs
2) тип p-nпереход – резкий
3) тепловой обратный ток () – 0,1
4) барьерная ёмкость () – 1
5) площадь поперечного сечения ( S
6) физические свойства полупроводника |
|||||||
Ширина запрещенной зоны, эВ
|
Подвижность при 300К, м2
/В × с |
Эффективная масса | Время жизни носителей заряда, с
|
Относительная диэлектрическая проницаемость | |||
электронов | Дырок | электрона mn
/me |
дырки mp
/me |
||||
1,42-8
|
0,85
-8 |
0,04
-8 |
0,067-8
|
0,0
82 -8 |
10-8
|
13,1-8
|
|
2. Анализ исходных данных
|
|||||||
1. Материал легирующих примесей: а) S (сера) элемент VIA группы (не Me) б) Pb (свинец) элемент IVA группы (Me) 2. Концентрации легирующих примесей: Nа
3. Температура (T
4. – ширина запрещенной зоны 5. , – подвижность электронов и дырок 6. , – эффективная масса электрона и дырки 7. – время жизни носителей заряда |
|||||||
8. – относительная диэлектрическая проницаемость | |||||||
3. Расчет физических параметров
p- и n- областей |
|||||||
а) эффективные плотности состояний для зоны проводимости и валентной зоны б) собственная концентрация в) положение уровня Ферми (рис. 1) (рис. 2) |
|
|
||||||||||||||||||||||||
(рис. 1) | (рис. 2) | ||||||||||||||||||||||||
г) концентрации основных и неосновных носителей заряда |
|||||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||||
д) удельные электропроводности p- и n- областей |
|||||||||||||||||||||||||
е) коэффициенты диффузий электронов и дырок |
|||||||||||||||||||||||||
ж) диффузионные длины электронов и дырок |
|||||||||||||||||||||||||
4. Расчет параметров
|
|||||||||||||||||||||||||
a) величина равновесного потенциального барьера б) контактная разность потенциалов |
в) ширина ОПЗ (переход несимметричный -) | ||
г) барьерная ёмкость при нулевом смещении д) тепловой обратный ток перехода |
||
е) график ВФХ |
||
– общий вид функции для построения ВФХ |
ж) график ВАХ |
||
|
– общий вид функции для построения ВАХ |
|
Ветвь обратного теплового тока (масштаб) |
||
Ветвь прямого тока (масштаб) |
||
Вывод.
- величина равновесного потенциального барьера () равна , что соответствует условию >0,7эВ
|
||
- барьерная емкость при нулевом смещении () равна 1,0112пФ
т.е. соответствует заданному ( 1пФ ) |
||
- значение обратного теплового тока () равно 1,92×10-16
|
||
Литература: 1. Шадский В. А. Конспект лекций «Физические основы микроэлектроники»
2. Шадский В. А Методические указания к курсовой работе по курсу «ФОМ»
3. Епифанов Г. И. Физические основы микроэлектроники
|